基于MC-GPU的能谱K-edge特性CT成像数据仿真

摘要

在能谱K-edge特性CT成像模型中,当X射线能量为材料(如钨、钆、金)K-edge时,材料的X射线衰减系数会发生骤变,衰减性急剧增加.针对K-edge特性的CT扫描仿真,本文设计了基于MC-GPU的K-edge材料钨丝的两次单能CT仿真实验,两次实验采用了相同的体素模型,选取的能量为钨的K-edge附近能量值.实验表明MC-GPU能有效地对K-edge材料进行CT仿真,获取扫描数据,体现了钨材料的K-edge特性.本文也与仿真软件Geant4做了对比实验,结果表明MC-GPU在节约时间成本上优势明显.