电离辐射对Jurkat细胞γ-H2AX蛋白表达的影响

摘要

目的:探讨电离辐射诱导Jurkat细胞γ-H2AX蛋白表达的影响.方法:采用流式细胞术(FCM)分别检测2.0 Gy X线照射后不同时间点(0、0.5、1.0、4.0、8.0、16.0及24.0h)和0.5、1.0、2.0、4.0及6.0Gy不同剂量X线照射后Jurkat细胞γ-H2AX表达变化,并于量效实验同时进行Jurkat细胞凋亡率检测.结果:与假照组比较,2.0Gy X线照射后Jurkat细胞γ-H2AX表达水平于1.0 h内达最大值,1.0 h后开始呈时间依赖性下降,16.0h仍高于假照水平(P<0.01),24.0 h降至与对照无明显差异;不同剂量X线照射后1.0h,Jurkat细胞γ-H2AX的表达水平在0.5 Gy以内没有明显变化,0.5 Gy以后呈剂量依赖性升高,4.0Gy时达最高水平(P<0.01),6.0 Gy时表达略下降;不同剂量X线照射后8.0 h,γ-H2AX表达在0～4.0Gy范围内随剂量增大而逐渐升高,4.0 Gy时达到最高水平(P<0.01),6.0Gy时表达有所下降.结论:X射线能诱导Jurkat细胞γ-H2AX表达增高,在一定范围内存在时间和剂量依赖关系.