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任殿胜; 华庆恒; 严如岳; 刘咏梅;
不详;
电解电容器; 铝箔; 氧化铝; 厚度; XPS;
机译:XPS测量过程中氧化物厚度对硅晶片表面有机硅烷单层降解的影响
机译:XPS对分散在微通道铝箔上的Pd / ZnO催化剂的表面分析
机译:近紫外光谱法研究α-氧化铝表面上纳米厚度超薄水层的第一电子转变和氢键状态
机译:傅立叶变换红外光谱法测定8000系列铝箔退火表面的氧化铝厚度。
机译:使用流动吸附量热法测量表面化学性质:无定形氢氧化铝和砷(V)的情况。
机译:凡尔赛高级材料和标准实验室间项目研究XPS和XPS测量纳米颗粒涂层的厚度和化学性质研究。雷斯
机译:使用白光扫描干涉测量法与反射测量法相结合的透明薄膜层的厚度和表面测量
机译:阳极氧化铝箔线圈,具有538 exp 0 C功能。总结报告
机译:偏轴法使用该方法测量多光谱干涉仪的总厚度以及误差测量以及整个基板表面在基板表面的高度
机译:厚度变化测量装置,使用相同厚度的系统,使用相同厚度的表面显微镜,使用厚度变化测量的方法以及使用相同厚度的表面图像的获取方法
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