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类金刚石薄膜表面的氨基修饰

         

摘要

采用射频磁控溅射法在双面抛光Si(100)基片上制备了类金刚石薄膜,通过磁过滤等离子体化学气相沉积法,以N2、H2混合气体为反应溅射气体,对类金刚石薄膜样品表面进行氨基改性.傅立叶变换红外透射光谱(FT-IR)的结果表明,改性后的类金刚石薄膜上有C-NH2键存在;光电子能谱(XPS)的结果表明,改性后的薄膜表面含氮量约为8.92%,N1s的结合能出现在氨基对应的结合能范围内,表明类金刚石薄膜经过适当改性后可以在薄膜表面产生氨基.

著录项

  • 来源
    《分析测试学报》 |2009年第5期|601-604|共4页
  • 作者单位

    中山大学,物理科学与工程技术学院,光电材料与技术国家重点实验室,广东,广州,510275;

    中山大学,测试中心,广东,广州,510275;

    中山大学,测试中心,广东,广州,510275;

    中山大学,测试中心,广东,广州,510275;

    中山大学,物理科学与工程技术学院,光电材料与技术国家重点实验室,广东,广州,510275;

    中山大学,物理科学与工程技术学院,光电材料与技术国家重点实验室,广东,广州,510275;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TH838.3;TP212.3;
  • 关键词

    类金刚石薄膜; 氨基; 傅立叶红外光谱; 光电子能谱;

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