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王敬义; 王永兴;
不详;
非晶硅; 甲硅烷; APCVD; 淀积; 热扩散;
机译:四(三甲基甲硅烷氧基)硅烷用于在常压下通过PECVD沉积的纳米结构SiO2样薄膜
机译:常压[M - H](+)阳离子在大气压电离质谱分析中的2-(二苯基甲硅烷基)环丙烷羧酸酯中的分析
机译:具有混合甲硅烷基化剂的常压干燥疏水性纳米结构二氧化硅气凝胶的光透射率改善
机译:用甲硅烷和臭氧反应形成常压光CVD方法的氧化硅薄膜
机译:过渡金属甲硅烷基甲硅烷基甲苯和常亚甲基络合物的发展,用于小分子活化
机译:超过8个月的常压间歇性低氧并不能减轻体重和代谢风险因素–一项关于常压低氧和常压假性低氧的随机单盲安慰剂对照研究
机译:四(三甲基甲硅烷氧基)硅烷用于在常压下通过PECVD沉积的SiO2纳米结构薄膜
机译:E-1,4-聚(2-三乙基甲硅烷基-1,3-丁二烯)和E-1,4-聚 - (2,3-双(三甲基甲硅烷基)-1,3-丁二烯)的环氧化。 E-1,4-聚(2,3-环氧-2-甲基甲硅烷基-1,3-丁二烯)和E-1,4-聚 - (2,3-双(三甲基甲硅烷基)的立体化学分析
机译:控制常压等离子体CVD淀积的微晶硅薄膜的结晶度的方法
机译:样品加热系统,常压CVD装置和减压CVD装置
机译:样品加热装置,常压CVD装置和真空CVD装置
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