退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
张勇; 谈恩民;
桂林电子工业学院,电子工程系,广西,桂林,541004;
BIST; SRAM故障模型; SRAM测试; March算法;
机译:具有FPGA的BIST和低功耗DLL设计的多端口SRAM
机译:通过BIST辅助时序跟踪(BATT)进行的稳健SRAM设计
机译:使用带有板间偏差校正功能的板级偏置控制的0.42V操作486kb FD-SOI SRAM
机译:用于板级SRAM群集互连测试的BIST TPG
机译:设计和分析稳健的可变性SRAM,以预测最佳访问时间,以实现未来纳米级CMOS的良率提高。
机译:功耗优化的变化感知双阈值SRAM单元设计技术
机译:B(Exp 2)UBIsT:边界扫描板统一BIsT的策略
机译:半导体集成电路,BIST电路,BIST电路的设计程序,BIST电路的设计装置以及存储器的测试方法
机译:半导体集成电路,BIST电路,BIST电路的设计程序,BIST电路的设计装置以及存储器测试方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。