第1章 绪 论
1.1课题研究背景及意义
1.2国内外研究现状与发展趋势
1.3 论文结构安排
第2章 存储器的测试方法与故障类型
2.1存储器的电路模型
2.2存储器可测试性设计方法
2.3存储器故障原语定义与分类
2.4本章小结
第3章 一种改进的SRAM故障内建自检测算法
3.1 存储器测试算法
3.2 March CS算法的提出
3.3 March CS算法对故障的检测
3.4 本章小结
第4章 MBIST电路设计与仿真
4.1 MBIST电路设计
4.2 基于March CS算法的MBIST电路仿真
4.3 March CS故障覆盖率
4.4 本章小结
结论与展望
1 研究结论
2 本文不足与展望
参考文献
附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录
致谢
