一种改进的嵌入式SRAM内建自测试设计

摘要

对单端口SRAM常用的13N测试算法进行修改和扩展,提出了一种适用于双端口SRAM的测试算法。该测试算法的复杂度为O(n),具有很好的实用性。作为一个实际应用,通过将该算法和13N测试算法实现于测试算法控制单元,完成了对片内多块单端口SRAM和双端口SRAM的自测试设计。