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目录
第一章 绪论
1.1 课题背景
1.2 国内外研究情况
1.3 章节安排
第二章 可测性设计与存储器理论
2.1 扫描技术
2.2 边界扫描技术
2.3 存储器内建自测试技术
2.4 SRAM结构模型
2.5 SRAM故障模型
第三章 MBIST测试算法
3.1 测试算法原理和性能指标
3.2 常见测试算法
3.3 改进的March LR算法
3.4 改进算法有效性分析
第四章 MBIST设计与验证
4.1 嵌入式存储器设计
4.2 MBIST电路设计
4.3 MBIST电路生成
4.4 多存储器的MBIST电路设计
4.5 仿真实现
第五章 结论与展望
5.1 研究结论
5.2 研究展望
参考文献
致谢
作者简介
1.基本情况
2.教育背景