退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
范焕章; 王刚宁; 张蓓榕; 贺德洪; 桂力敏;
华东师范大学电子系;
集成电路; 可靠性; 栅氧化膜; 击穿;
机译:负直流预应力对导体杆间隙正脉冲击穿特性的影响
机译:ESD脉冲应力下栅极氧化物的可靠性方面
机译:高场应力下栅氧化物的介电击穿
机译:通过脉冲偏置直流辉光放电产生的类金刚石碳膜。
机译:铝微电极单脉冲阳极氧化过程中氧化膜的放电行为和介电击穿
机译:组合直流脉冲激励下的线板式静电除尘器的击穿前VI特性建模
机译:氧化铝上厚膜电路的一些高压直流击穿特性。
机译:氧化应力特性的诊断分析图,氧化应力特性的诊断方法和使用该功能食品的估算/开发方法,以及用于改善氧化应力特性的功能食品
机译:硅晶片的晶体缺陷检测方法,晶体缺陷评估方法和氧化物膜击穿电压特性评估方法
机译:具有低介电常数和低膜应力的含硅绝缘层的形成方法以形成具有低膜应力的介电层而又不增加成本或牺牲膜特性的方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。