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嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现

     

摘要

以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.调试主机只需要通过一根JTAG调试电缆就可以访问目标处理器内部寄存器等各种资源,并控制目标处理器的运行过程,实现了处理器的在片调试功能,大大地方便了软件开发与系统调试.

著录项

  • 来源
    《计算机辅助设计与图形学学报》 |2006年第7期|1005-1010|共6页
  • 作者单位

    中国科学院计算技术研究所系统结构研究室,北京,100080;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院计算技术研究所系统结构研究室,北京,100080;

    中国科学院计算技术研究所系统结构研究室,北京,100080;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    北京神州龙芯集成电路设计有限公司,北京,100083;

    中国科学院计算技术研究所系统结构研究室,北京,100080;

    中国科学院计算技术研究所系统结构研究室,北京,100080;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    北京神州龙芯集成电路设计有限公司,北京,100083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 计算技术、计算机技术;
  • 关键词

    在片调试; IEEE P1149.1; JTAG; 龙芯1号处理器;

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