嵌入式处理器在片调试功能的验证

许彤; 王朋宇; 黄海林; 范东睿; 朱鹏飞; 郑保建; 曹非

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嵌入式处理器在片调试功能的验证

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以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了基于JTAG的处理器在片调试功能的验证方法.根据在片调试的结构特征建立了功能覆盖率模型,并以访存模式为基准分步建立虚拟验证原型.整个验证将定向功能测试和指令集随机测试有机地结合起来,迅速定位了设计中多个难以发现的错误.最终验证的功能覆盖率达到100%,FPGA原型经长时间运行无误.

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来源
《计算机辅助设计与图形学学报》|2007年第4期|502-507|共6页
作者
许彤; 王朋宇; 黄海林; 范东睿; 朱鹏飞; 郑保建; 曹非;
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作者单位

中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心,北京,100080;

中国科学院研究生院,北京,100049;

中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心,北京,100080;

中国科学院研究生院,北京,100049;

中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心,北京,100080;

中国科学院研究生院,北京,100049;

中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心,北京,100080;

北京神州龙芯集成电路设计有限公司,北京,100083;

中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心,北京,100080;

中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心,北京,100080;

中国科学院研究生院,北京,100049;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微处理机;
关键词
在片调试; 覆盖率模型; 虚拟验证原型; 定向功能测试; 随机测试; 龙芯1号处理器;
入库时间 2022-09-01 14:01:44

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