首页> 中文期刊> 《重庆电子工程职业学院学报》 >宽光谱监控法制作红外超宽带减反膜的研究

宽光谱监控法制作红外超宽带减反膜的研究

             

摘要

Continuously develop along with the high-tech optoelectronics instrument, request instrumental spectrum to use scope more and more breadth, make a high request to thin film characteristic and accuracy of optical component thus, red the outside super bread%高科技光电仪器的不断发展要求仪器的光谱使用范围越来越宽,从而对光学元件的薄膜特性和精度提出了更高的要求,红外超宽带减反膜就是为适应这些需求而开发的一种膜系。宽光谱监控法是镀制高精度红外超宽带减反膜的最合适、最有效的方法之一,本文根据薄膜光学的基本方法,通过膜系设计、实际的制作过程和制作结果,充分证实了这一点。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号