测量薄膜材料n、h、d的简易方法及其在低温测量中的应用

摘要

介绍了一种测定薄膜材料光学常数的简易方法，它的最大优点是只需要知道薄膜材料的透射光谱。薄膜的光学常数和厚度测量精度优于1％，并给出了PbTe、ZnSe薄膜在室温及低温下的折射率。