首页> 外文OA文献 >Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties, and Superconductor Critical-Current Testing Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties, and Superconductor Critical-Current Testing , Jack W. Ekin , Oxford U. Press, New York, 2006. $125.00 (673 pp.). ISBN 978-0-19-857054-7

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Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties, and Superconductor Critical-Current Testing Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties, and Superconductor Critical-Current Testing , Jack W. Ekin , Oxford U. Press, New York, 2006. $125.00 (673 pp.). ISBN 978-0-19-857054-7

机译：低温测量的实验技术：低温测量的低温设计，材料性能和超导体临界电流测试实验技术，用于低温测量：低温恒温器设计，材料特性和超导体临界电流测试，杰克W. ekin，牛津U.按，纽约，2006年。$ 125.00（673 pp）。 ISBN 978-0-19-857054-7

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George O. Zimmerman;
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年度 2007
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正文语种
中图分类
入库时间 2022-08-20 22:11:05

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