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刘玉倩; 高津平;
中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京101601;
晶圆; 减薄后; 清洗系统;
机译:低成本,低污染的TSV晶圆减薄技术:通过全湿法减薄与Viamidol兼容的TSV晶圆
机译:在线表征和键合晶圆的极端晶圆减薄的控制
机译:低成本,低污染TSV晶圆减薄技术:所有湿法的抗玻璃兼容性TSV晶圆薄层
机译:用于3D系统集成的晶圆级氧化物熔合和晶圆减薄开发:用于TSV-last集成的氧化物熔合晶圆键合和晶圆减薄开发
机译:平面化和后平面化工艺中的焊盘晶圆和刷子晶圆接触特性。
机译:金膜厚度和表面粗糙度对室温晶圆键合和金-金表面活化键合的晶圆级真空密封的影响
机译:铌酸锂晶圆键合和减薄的研究
机译:选择性电化学晶圆减薄在硅表征中的应用
机译:处理一侧具有组件的晶圆,特别是减薄晶圆,包括在晶圆正面涂上涂层系统并进行单独涂层,因此涂层系统在减薄过程中支撑或运送晶圆
机译:晶圆处理包括在晶圆减薄过程中展示组件,组件分离和中间生产步骤,其中晶圆的正面涂有包含界面和载体层的层或层系统
机译:表皮晶圆的后表面的检查方法,表皮晶圆的后表面检查装置,表皮生长装置的顶针的管理方法以及表皮晶圆的制造方法
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