一种基于板壳理论对芯片翘曲变形的研究

摘要

在温度变化过程中,由于芯片封装层叠结构及材料热膨胀系数的不匹配,封装结构会发生翘曲现象.芯片翘曲关乎到电子元器件的可靠性及质量,准确快速地计算翘曲对于封装结构设计及材料选型有着重要意义.基于多层板翘曲理论,建立了一套对芯片翘曲进行计算的双曲率模型.以常规的指纹识别芯片为例,通过实验测量及有限元仿真的对比验证,证明了该理论可以满足工程计算精度.该模型可以拓展到其余多层板结构的翘曲计算,对于优化芯片翘曲设计有重要意义.