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张安康;
无;
集成电路; VLSI; 测试; 电迁移;
机译:通过VLSI测试技术提高系统可靠性的期望
机译:改进的晶圆层状金属结构的电迁移测试技术
机译:纳米VLSI电路的基于物理的电迁移和时变介电击穿建模以及可靠性分析。
机译:用于梯度流声源分离的微功率混合信号VLSI独立分量分析
机译:数字VLsI电路的低功耗高故障覆盖测试技术
机译:具有可控形态和多态性的微尺度碳酸钙结构的电迁移和沉积。
机译:包含电迁移微脉冲的微镜器件
机译:用于制造电迁移晶体过渡金属硅化物层的方法,相应的层序列和微加热器
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