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一种微焊点电迁移测试结构、制备夹具及制备方法

摘要

本发明涉及一种微焊点电迁移测试结构、制备夹具及制备方法,解决的是测试难度大、精度小的技术问题,通过采用重叠设置的第一PCB板和第二PCB板,第一PCB板和第二PCB板除横截面形状不同外,其余均完全相同且对称;第一PCB板与第二PCB板重叠的4个表面均相同且设置有至少两条铜布线,每条铜布线的两端各设有一个焊盘,在非焊盘的部分涂有用于阻焊的绿油层;同一平面的铜布线的走线角度不同;非接线端焊盘需形成微焊点阵列,微焊点阵列中的各个焊点均设有编号,焊点编号顺序为沿电流方向连续编号;第二PCB板设置有用于接入电源及测试电阻的接线端焊盘的技术方案,较好地解决了该问题,可用于微焊点电迁移测试中。

著录项

  • 公开/公告号CN111885817A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桂林电子科技大学;

    申请/专利号CN202010897260.9

  • 申请日2020-08-31

  • 分类号H05K1/02(20060101);H05K1/11(20060101);H05K3/34(20060101);

  • 代理机构45134 桂林文必达专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张学平

  • 地址 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号

  • 入库时间 2023-06-19 08:48:57

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