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来萍; 邝贤军; 梁晓思;
工业和信息化部电子第五研究所,广东,广州,510610;
静电放电; 试验方法; 标准; 对比;
机译:esd试验方法对水平整体板间接排放过程中试样影响的比较
机译:由于ESD /感应噪声而导致电子设备故障-支持增强LSI ESD电阻的背景知识
机译:ESD /电感噪声电子设备故障 - 背景知识,以帮助加强LSI的ESD电阻
机译:基于气密规格的励磁试验方法的选择(第1次报告)比较三种试验方法在超防护室的比较
机译:长期的困境:比较视角下美国对欧洲国防自主权,EDC和ESDP矛盾的根源。
机译:新型Multiloop(M-loop)牵引方法与无牵引ESD方法在结直肠ESD期间的解剖速度比较
机译:乳球菌链球菌与常规生化反应的Micrscan鉴定和药敏试验方法的比较以及Kirby-Bauer药敏试验方法的比较
机译:保护电子爆炸装置(EED)和电子设备免受静电放电(EsD)危害
机译:电子元器件的跌落冲击试验方法及其跌落冲击试验装置
机译:电子元器件及其制造方法,以及具有该电子元器件的电子设备
机译:用于生成信号以进行电子设备的ESD压力测试的设备和方法以及用于执行电子设备的ESD压力测试的系统
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