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仪器漏电引起的CMOS电路闩锁

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摘要

以某整机在调试过程中发生的一只CMOS驱动门电路的闩锁失效为例,具体分析了测试仪器感应漏电引起CMOS电路闩锁的现象、机理和原因,具有一定的典型性.

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来源
《电子元器件应用》 |2002年第3期|26-27,40|共3页
作者
马璇;
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作者单位

骊山微电子公司,陕西,西安,710075;

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正文语种 chi
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
互补型金属氧化物半导体集成电路; 闩锁; 使用失效;

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