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张跃宗; 冯士维; 张弓长; 王承栋;
北京工业大学电控学院可靠性物理实验室;
欧姆接触; 接触电阻率; X射线衍射能谱;
机译:Ti / Au,Ti / Al / Au和Ti / Al / Ni / Au与n-GaN的欧姆接触的研究
机译:Ti / Al / Ni / Au欧姆接触n-GaN的高温特性
机译:Ti / Al欧姆接触n-GaN时退火温度升高的微结构演化的透射电子显微镜研究
机译:TEM研究和Au / Ni / Ti / Ta / n-GaN欧姆接触的接触电阻
机译:通过固相反应开发与n-Ga(或Al)(0.5)In(0.5)P的不尖峰欧姆接触以及对n-GaAs进行低温处理的欧姆接触
机译:AlGaN / GaN HEMT的优化Ti / Al / Ta / Au欧姆接触的电学表征和纳米级表面形貌
机译:Au-Free欧姆Ti / Al /锡接触到UID N-GaN由溅射沉积制造
机译:砷化镓上的au-Ge-Ni-Ti欧姆接触。
机译:Ga-Al-As化合物半导体的Au-Ge-Ni欧姆接触
机译:用于GaAs和GaAlAs的Ni-Ge-Au欧姆接触
机译:与n-GaAs的Si / Au / Ni合金欧姆接触及其制造工艺
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