轻掺杂漏(LDD)MOS FET工艺研究

摘要

本文描述了以国产设备为基础研制出的轻掺杂漏MOS FET.测试结果表明,轻掺杂漏MOS FET能够有效地抗热载流子效应及短沟道效应,速度也较快。