膜去溶-ICP-MS法测定高纯Eu_2O_3中14种痕量稀土杂质

摘要

研究了不需基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯Eu2O3中的14种痕量稀土杂质的分析方法。讨论了Eu基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰。使用膜去溶后,待测元素灵敏度提高3倍左右,EuO/Eu产率从去溶前的0.016%降低为0.0007%。建立了Tm的数学校正方程,通过膜去溶结合数学校正可将Eu基体对Tm干扰完全消除。14种稀土杂质的检出限和（∑RE）为70 ng/L,测定下限和（∑RE）为0.54μg/g。对6N高纯Eu2O3样品进行了分析,样品回收率为96%-109%,RSD小于10%。所建立的方法对Eu2O3标准样品的测定结果与国家标准方法测定结果相一致。