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邱继军; 靳正国; 钱进文;
天津大学;
先进陶瓷与加工技术教育部重点实验室;
天津;
300072 天津大学;
300072;
CIS薄膜; ILGAR法制备; 化学计量;
机译:电沉积硫族化物薄膜的化学计量学实时监测与库仑法和电化学石英晶体微重力流体力学控制.Ag_(2 +#delta#Se case
机译:化学喷雾法研究温度下摩尔浓度对纳米晶双掺杂CuInS2薄膜的影响
机译:低温化学沉积法研究CuInS2薄膜的形成
机译:Cuins2薄膜太阳能电池吸收器的表面脱离化学计量
机译:使用直流等离子体等离子体增强化学气相沉积法合成化学计量的氢化非晶碳化硅薄膜。
机译:脉冲激光外延在高真空下控制同质外延SrTiO3薄膜中氧化学计量的生长
机译:化学计量法研究Nb2O5薄膜的电致变色行为化学计量法研究Nb2O5薄膜的电致变色行为
机译:通过原位椭圆偏振法(postprint)监测多靶脉冲激光沉积的BCxNy薄膜的可调化学计量。
机译:颗粒化学计量分析的方法和系统用化学计量法控制颗粒的生产过程
机译:氢还原制钛的亚化学计量法
机译:用受控氧化学计量法在不同基质材料上沉积电子陶瓷氧化物薄膜的方法
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