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许振嘉; 陈维德;
中国科学院半导体研究所;
机译:ISO / TC 201标准摘要:XX ISO 18118:2004-表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱-将实验确定的相对灵敏度因子用于定量分析的指南
机译:X射线光电子能谱和俄歇电子能谱定量分析的标准化
机译:俄歇电子能谱法对含ter氧化物氟化物玻璃的化学状态和定量分析
机译:俄歇电子能谱的研究进展及其在纳米技术领域的应用
机译:使用X射线光电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失能谱和低能电子衍射来表征氧化铝的电子和几何结构。
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:用于石油馏分的组类型分析的质谱学的新进展(第二部分)用于石油馏分的化学族定量分析的质谱学的新进展(第二部分)
机译:低能电子衍射(LEED),俄歇电子能谱(aEs),热解吸(TD)电子能谱用于化学分析(EsCa)研究。进展摘要,1979年7月至1981年3月
机译:用于俄歇电子能谱的分析样品的制备方法和俄歇电子能谱的方法
机译:使用马尔迪质谱定量分析聚合物的方法和制造用于聚合物定量分析的马尔迪质谱样品的方法
机译:俄歇电子能谱的样品制备方法
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