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1.
Investigation of the Martensitic Transformation in High-Chromium CastIrons using Microscopy and Microanalysis
机译:
用显微镜和显微分析研究高铬铸铁中的马氏体转变
作者:
B. Hinckley
;
K. F. Dolman
;
R. Wuhrer
;
K. Moran
;
W. Yeung
;
A. Ray
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
2.
Al_(2024)-CNTs Composites by Mechanical Alloying
机译:
机械合金化Al_(2024)-CNTs复合材料
作者:
R. Pérez-Bustamante
;
F. Pérez-Bustamante
;
W. Antúnez-Flores
;
J. M. Herrera-Ramírez
;
I. Estrada-Guel
;
P. Amezaga-Madrid
;
M. Miki-Yoshida
;
R. Martínez-Sánchez
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
3.
Microstructural Characterization of NiCoAlFeCuCr High-Entropy Alloys.
机译:
NiCoAlFeCuCr高熵合金的显微组织表征。
作者:
C. D. Gómez-Esparza
;
I. Estrada-Guel
;
W. Antúnez-Flores
;
J. M. Herrera-Ramírez
;
R. Martínez-Sánchez
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
4.
Microstructural Analysis of Al-Al4C3 Nanocomposites Produced in Solid State
机译:
固态生产的Al-Al4C3纳米复合材料的微观结构分析
作者:
A. Santos-Beltrán
;
R. Martínez-Sánchez
;
E. García-Sánchez
;
P. de Lira-Gómez
;
W. Antúnez-Flores
;
V. Gallegos-Orozco
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
5.
Practical Remote Microscopy Using KVM Over IP
机译:
使用IP上的KVM的实用远程显微镜
作者:
H.O. Colijn
;
D.E. Huber
;
P.C. Collins
;
H.L. Fraser
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
6.
Li K-Emission Measurements Using a Newly Developed SXES-TEM Instrument
机译:
使用最新开发的SXES-TEM仪器进行李K发射测量
作者:
M. Terauchi
;
H. Takahashi
;
N. Handa
;
T. Murano
;
M. Koike
;
T. Kawachi
;
T. Imazono
;
M. Koeda
;
T. Nagano
;
H. Sasai
;
Y. Oue
;
Z. Yonezawa
;
S. Kuramoto
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
7.
Alternative Windows for the Ultrahigh Collection Angle π sr Transmission X-ray Detector
机译:
超高收集角πsr透射X射线检测器的备用窗口
作者:
Nestor J. Zaluzec
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
8.
Large Solid Angle 50 mm~2 SDD for SEM Applications
机译:
适用于SEM应用的大立体角50 mm〜2 SDD
作者:
S. Barkan
;
V. D. Saveliev
;
N. J. Zaluzec
;
C. R. Tull
;
L. Feng
;
M. Takahashi
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
9.
EELS EFTEM imaging: Instrumentation, Applications and Artifacts
机译:
EELS和EFTEM成像:仪器,应用和伪像
作者:
G. Kothleitner
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
10.
Overview of Electron Sources and Stability Improvements on Vogel Mounted Thermal Sources
机译:
电子源概述和Vogel固定式热源的稳定性改进
作者:
W.A. Mackie
;
G.G. Magera
;
C.L. Fast
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
11.
Recent Advances in EELS Instrumentation and Analysis: Spectroscopy and Filtered Imaging with Extended Energy, Temporal, and Dynamic Range
机译:
EELS仪器和分析的最新进展:具有扩展的能量,时间和动态范围的光谱学和滤波成像
作者:
R.D. Twesten
;
M.M.G. Barfels
;
C.G. Trevor
;
P.J. Thomas
;
N.K. Menon
;
A. Aitouchen
;
A.J. Gubbens
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
12.
Progress in dynamic EBSD pattern simulation
机译:
动态EBSD模式仿真的进展
作者:
G. Nolze
;
A. Winkelmann
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
13.
High-Speed, Hardware Synchronized STEM EELS Spectrum-Imaging Using a Next Generation Post-Column Imaging Filter
机译:
使用下一代柱后成像滤波器的高速,硬件同步的STEM EELS频谱成像
作者:
P.J. Thomas
;
C. Trevor
;
E. Strohbehn
;
J. Wilbrink
;
R. D. Twesten
;
A. Gubbens
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
14.
Atomic and Electronic Structure of Graphene Based on HRTEM andab-initio Calculations
机译:
基于HRTEM和 r nab-initio计算的石墨烯原子和电子结构
作者:
P. Plachinda
;
S. Rouvimov
;
G. Nandamuri
;
R. Solanki
;
K. Langworthy
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
15.
Plasmon Driven Nanoparticle Movement in the Electron Beam
机译:
等离子体驱动的电子束中的纳米粒子运动
作者:
A. Reyes-Coronado
;
J. Aizpurua
;
P.M. Echenique
;
R.G. Barrera
;
P.E. Batson
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
16.
A Simple Autofocus Technique for Aberration Corrected TEM
机译:
一种简单的自动对焦技术,用于像差校正TEM
作者:
G. M?bus
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
17.
Applications of Spherical Aberration Correction in STEM and TEM
机译:
球面像差校正在STEM和TEM中的应用
作者:
S. Lazar
;
J Etheridge
;
C. Dwyer
;
B. Freitag
;
G. A. Botton
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
18.
Scale Effects on the Melting Behavior of Silver Nanoparticles
机译:
尺度效应对银纳米粒子熔融行为的影响
作者:
M.A. Asoro
;
D. Kovar
;
J. Damiano
;
P.J. Ferreira
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
19.
Investigation of Dielectric Breakdown on the Atomic Length-scale Using In situ STM-TEM
机译:
使用原位STM-TEM研究原子长度尺度上的介电击穿
作者:
K. van Benthem
;
C.S. Bonifacio
;
A.M. Thron
;
S.M. Weil
;
T.B. Holland
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
20.
Fourier Analysis of Deformations of Catalytic Gold Nanoparticlesunder Reaction Conditions
机译:
反应条件下催化金纳米粒子变形的傅里叶分析
作者:
T. Kawasaki
;
T. Miura
;
T. Tanji
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
21.
Ultrafast Electron Diffraction and Microscopy: Why We Should Know About Transient Electric Fields and Where They Come From
机译:
超快电子衍射和显微镜:为什么我们应该了解瞬态电场及其来源
作者:
Hyuk Park
;
Jian-Min Zuo
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
22.
Quantitatively Probing the Mechanical Behavior of Submicron-sizedMetal Pillars in the TEM
机译:
定量探测TEM中亚微米级 r n金属柱的力学行为
作者:
Z. W. Shan
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
23.
Characterization of Metallic Core-Shell Structure of Electro-Catalysts
机译:
电催化剂金属核壳结构的表征
作者:
Dong Su
;
Lijun Wu
;
Hiromi Inada
;
Jia X. Wang
;
Weiping Zhou
;
Kotaro Sasaki
;
Kuanping Gong
;
Radoslav R. Adzic
;
Yimei Zhu
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
24.
RF Photoinjector Based Femtosecond Relativistic Electron Diffraction
机译:
基于射频光电注入器的飞秒相对论电子衍射
作者:
P.Musumeci
;
C. M. Scoby
;
J. T. Moody
;
M. Westfall
;
M. S. Gutierrez
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
25.
Preparation of 00145otilt Quasi-periodic Grain Boundaries in Aluminium for HREM Studies by Cross Rolling and Annealing
机译:
通过交叉轧制和退火制备用于HREM研究的铝中001 45齿准准晶界
作者:
M. Shamsuzzoha
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
26.
Local Thickness Measurement in TEM
机译:
TEM中的局部厚度测量
作者:
Huairuo Zhang
;
Ray F. Egerton
;
Marek Malac
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
27.
Automated Orientation Imaging Microscopy of Nanoscale Al Thin Films After Rapid Solidification using SEM and TE M
机译:
使用SEM和TE M快速固化后的纳米Al薄膜的自动取向成像显微镜
作者:
A. Kulovits
;
G. Facco
;
H. Kotan
;
J.M.K. Wiezorek
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
28.
Understanding Atomic-Scale Phenomena in Functional Materials by using STEM, ELNES, and Theoretical Calculations
机译:
通过使用STEM,ELNES和理论计算来了解功能材料中的原子尺度现象
作者:
Teruyasu Mizoguchi
;
Tetsuya Tohei
;
Yukio Sato
;
Takahisa Yamamoto
;
Yuichi Ikuhara
;
Hiromichi Ohta
;
Hidenori Hiramatsu
;
Hideo Hosono
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
29.
News on Silicon Drift Detectors for X-Ray Nanoanalysis in S/TEM
机译:
有关S / TEM中X射线纳米分析的硅漂移检测器的新闻
作者:
M. Falke
;
R. Kroemer
;
D. Fissler
;
M. Rohde
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
30.
Aberration-Corrected STEM Imaging Through Off-Site Remote Operation
机译:
通过场外远程操作进行像差校正的STEM成像
作者:
K. A. Jarvis
;
Lawrence F. Allard
;
Timothy Y. Jerome
;
Thomas C. Isabell
;
Douglas A. Blom
;
Paulo J. Ferreira
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
31.
Nanoscale characterisation of CuInGaSe_2/CdS structures grown by PulsedElectron Deposition
机译:
脉冲 r n电子沉积法生长CuInGaSe_2 / CdS结构的纳米级表征
作者:
Lucia Nasi
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
32.
Applications of Electron Microscopy in Crystalline Si Solar Cells
机译:
电子显微镜在晶体硅太阳能电池中的应用
作者:
L. Liang
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
33.
Microscopy study of contact formation of Si photovoltaic
机译:
硅光伏接触形成的显微镜研究
作者:
Hsin-Chiao Fang
;
Chuan-Pu Liu
;
Hung-Shuo Chung
;
Chin-Lin Huang
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
34.
Electron Backscatter Diffraction Analysis of a Reconstructed WootzDamascus Steel Blade
机译:
重构的Wootz r n大马士革钢叶片的电子背散射衍射分析
作者:
A.P. Sullivan
;
M.R. Barnett
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
35.
High Count Rate Standardless and Standard-Based Quantification in EDS – Practical Limits and Root Causes for Deviations in the Result
机译:
EDS中的高计数率无标准和基于标准的定量分析–实际极限和结果偏差的根本原因
作者:
S. Scheller
;
T. Salge
;
R. Terborg
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
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2010年
36.
Extremely Low Magnification EBSD with an FE-SEM
机译:
具有FE-SEM的极低放大倍率EBSD
作者:
Y. Yamamoto
;
K. Ogura
;
K. Kawauchi
;
M. Shibata
;
N. Erdman
;
C. Nielsen
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
37.
The Leica EM VCT100 Versatile Cryo Transfer System
机译:
Leica EM VCT100多功能冷冻转印系统
作者:
Kim H. Rensing
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
38.
Advantages of Large Area SDD Detectors for Analysis in Analytical TEMs
机译:
大面积SDD检测器在分析TEM中的优势
作者:
N. Rowlands
;
S. Yamaguchi
;
M. Ishida
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
39.
Performance of Corrected Transmission Electron Microscopes in Combination with an In-Column Filter and a Distortion-Free Monochromator
机译:
校正的透射电子显微镜与柱内滤光片和无畸变单色仪结合使用的性能
作者:
S. Pokrant
;
A. Merkle
;
D. C. Bell
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
40.
In-situ TEM Studies of Microstructure Evolution under Ion Irradiation for Nuclear Engineering Applications
机译:
核工程应用中离子辐照下微观结构演化的原位TEM研究
作者:
D. Kaoumi
;
A. T. Motta
;
M. Kirk
;
Thibault Faney
;
Brian Wirth
;
Jim Bentley
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
41.
Application of Various Imaging Techniques in the Study of Bone TissueFormation Enabled by Biomimetic Nanomaterials
机译:
各种成像技术在仿生纳米材料促成骨组织形成中的应用
作者:
H. Wang
;
X. Yang
;
X. Chen
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
42.
Multi-modal Imaging of Cell-Biomaterial Interactions Under Dynamic Chemical and MechanicalEnvironments
机译:
动态化学和机械环境下细胞-生物材料相互作用的多模态成像
作者:
Wei Tan
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
43.
Analytical Microscopy Techniques in Support of Nanoparticle Environmental Safety Health Considerations
机译:
支持纳米颗粒环境安全和健康考虑的分析显微镜技术
作者:
K. L. Bunker
;
T. L. Lersch
;
G. S. Casuccio
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
44.
Particle Characterization of Environmental Soots via HRTEM and XPSTechniques
机译:
通过HRTEM和XPS r n技术对环境烟灰的颗粒表征
作者:
R. L. Vander Wal
;
V. M. Bryg
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
45.
Multifunctional and Multimodal Plasmonic Nanoparticles in Imaging andTherapy
机译:
多功能和多模式等离子纳米粒子在成像和治疗中的应用
作者:
K.V. Sokolov
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
46.
Mitigating Focused Ion Beam Damage in Molybdenum Nanopillars by In SituAnnealing
机译:
通过原位退火减轻钼纳米柱中的聚焦离子束损伤
作者:
M.B. Lowry
;
D. Kiener
;
M.M. LeBlanc
;
C. Chisholm
;
J.N. Florando
;
J.W. Morris
;
A.M. Minor
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
47.
In-situ Observation of Damage Structure in Fe-Cr Alloys by means of HVEM-ion Accelerator Facility
机译:
HVEM离子加速器设施对Fe-Cr合金损伤结构的原位观察
作者:
S. Ohnuki
;
N. Hashimot H. Seto
;
N. Yamaguchi
;
H. Kinoshita
;
S. Watanabe
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
48.
Investigating Radiation Damage in Ceramics:the Role of In Situ Microscopy
机译:
研究陶瓷中的辐射损伤: r n原位显微镜的作用
作者:
K.L. Smith
;
G.R. Lumpkin
;
K.R. Whittle
;
M.G. Blackford
;
N.J. Zaluzec
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
49.
Remote Plasma Cleaning from a TEM Sample Holder with an Evactron~? De-Contaminator
机译:
使用Evactron从TEM样品架中进行远程等离子体清洁?去污剂
作者:
Christopher G. Morgan
;
David Varley
;
Ronald Vane
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
50.
Automated Local Texture and Stress Analysis in Cu Interconnects using DSTEM and Precession Microscopy
机译:
使用DSTEM和旋进显微镜对铜互连中的局部纹理和应力进行自动分析
作者:
K.J. Ganesh
;
S. Rajasekhara
;
D. Bultreys
;
J.P. Zhou
;
P.J. Ferreira
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
51.
Morphological Characterization of Bacteria Using the Atmospheric Scanning Electron Microscope (ASEM)
机译:
大气扫描电子显微镜(ASEM)对细菌的形态学表征
作者:
K. Teramoto
;
H. Nishiyama
;
Y. Maruyama
;
Y. Konyuuba
;
Y. Abe
;
D. Guarrera
;
M. Suga
;
C. Sato
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
52.
X-ray Imaging and Microtomography Integrated into the SEM: XuM Examples from Biology
机译:
X射线成像和显微断层扫描技术集成到SEM中:来自生物学的XuM示例
作者:
Paul Mainwaring
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
53.
Temperature and Size Effects on Radiation-Induced PhaseTransformation in Monoclinic Nano-Sized Zirconia
机译:
温度和尺寸对单斜晶纳米氧化锆辐射诱导相变的影响
作者:
Fengyuan Lu
;
Jiaming Zhang
;
Alexandra Navrotsky
;
R. C. Ewing
;
JieLian
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
54.
High-Speed Direct-Detection Electron Detector for the TEAM Project
机译:
TEAM项目的高速直接检测电子探测器
作者:
P. Denes
;
M. Battaglia
;
D. Contarato
;
D. Doering
;
P. Giubilato
;
D. Gnani
;
B. Krieger
;
V. Radmilovic
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
55.
The SEM/FIB Workbench: Nanorobotics System inside of Scanning Electron or Focussed Ion Beam Microscopes
机译:
SEM / FIB工作台:扫描电子或聚焦离子束显微镜内部的纳米机器人系统
作者:
V. Klocke
;
B. Plitzko
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
56.
Structural Studies of Mono-atomic Layer-deposited (FePt)_(1-x)Cux Thin Films and FePt Thin Films with Pt Top-layer Deposition
机译:
单原子层沉积(FePt)_(1-x)Cux薄膜和Pt顶层沉积的FePt薄膜的结构研究
作者:
X.Z. Li
;
Y.S. Yu
;
T. George
;
D.J. Sellmyer
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
57.
Hybrid Architectures of Metal Oxide Nanostructures Grown on Aligned Carbon Nanotubes
机译:
排列碳纳米管上生长的金属氧化物纳米结构的混合体系结构
作者:
J. G. Ok
;
K. A. Juggernauth
;
K. Sun
;
A. A. McLane
;
Y. Zhang
;
S. H. Tawfick
;
A. J. Hart
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
58.
Primary Particle Size Analysis of Gold Nanoparticles by Transmission Electron Microscopy and Optical Spectroscopy
机译:
金纳米粒子的初级粒度的透射电子显微镜和光谱学分析
作者:
A. Paez
;
N. Ramani
;
D. Kim
;
C. Queenan
;
A. Calabro
;
J. Sankar
;
D. Becker
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
59.
Grain Size Determination and Grain Boundary Characterization of Nanocrystalline Thin Films From Conical Dark Field Imaging
机译:
锥形暗场成像法测定纳米晶薄膜的粒径和晶界特征
作者:
A. Darbal
;
K. Barmak
;
T. Nuhfer
;
T. Sun
;
K. R. Coffey
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
60.
Dynamical Effects in the Study of Supported Nanocrystals using Electron Holography
机译:
电子全息图研究负载型纳米晶体的动力学效应
作者:
R.E. Dunin-Borkowski
;
C.B. Boothroyd
;
M. Beleggia
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
61.
Environmental Chamber for In Situ Studying of Drying of Granular Materials Using X-ray Computer Tomography Microscopy
机译:
使用X射线计算机断层扫描显微镜原位研究颗粒材料干燥的环境室
作者:
M.M. Sushchikh
;
S.Yu. Sushchikh
;
T.G. Theofanous
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
62.
Field Mapping and Ohmic Contacts for AlGaN- or AlInN-Based Heterojunction Field Effect Transistors
机译:
基于AlGaN或AlInN的异质结场效应晶体管的场映射和欧姆接触
作者:
Lin Zhou
;
D. A. Cullen
;
J. H. Leach
;
X. Ni
;
H. Morko?
;
D. J. Smith
;
M. R. McCartney
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
63.
Unpatterned Wafer Haze as a Monitor of Film Thickness Profile and Composition for Blanket Wafers Deposited by Atomic Layer Deposition
机译:
无图案的晶圆雾度作为薄膜厚度分布和原子层沉积沉积的晶圆晶圆组成的监测器
作者:
K. Beckwitt
;
B. Donehoo
;
T.B. Tran
;
N.M. Perez-paz
;
T.E. Glassman
;
C.D. Thomas
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
64.
Image Analysis of EDS and Backscatter SEM Images of Pharmaceutical Tablets
机译:
药物片剂的EDS和背散射SEM图像分析
作者:
R. A. Carlton
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
65.
Microscopical Characterization of Controlled Release Pharmaceuticals: A Complementary Approach
机译:
控释药物的微观表征:一种补充方法
作者:
Michelle R. Cavaliere
;
Mary A. Miller
;
Tim B. Vander Wood
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
66.
Determining Chemical Phases from Elemental Maps of Tablets
机译:
从片剂的元素图确定化学相
作者:
R. Anderhalt
;
T. Nylese
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
67.
Analytical Electron Microscopy of ZnO Bipods Grown from Solutions
机译:
溶液中生长的ZnO两足动物的分析电子显微镜
作者:
G. Drazic
;
M. Bitenc
;
P. Podbrscek
;
Z. Crnjak-Orel
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
68.
Electron Holographic Li-ion Profiling of an Inorganic Solid-state Electrolyte
机译:
无机固态电解质的电子全息锂离子谱分析
作者:
T. Hirayama
;
K. Yamamoto
;
T. Asaka
;
A. Kuwabara
;
Y. Iriyama
;
Z. Ogumi
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
69.
Measurement of the Charge Distribution Along an Electrically Biased Carbon Nanotube using Electron Holography
机译:
使用电子全息术测量沿电偏置碳纳米管的电荷分布
作者:
M. Beleggia
;
T. Kasama
;
R.E. Dunin-Borkowski
;
G. Pozzi
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
70.
Structure Study of Solution Formed Poly(3-hexylthiophene) Nanofibers
机译:
溶液形成的聚(3-己基噻吩)纳米纤维的结构研究
作者:
John D. Roehling
;
Adam J. Moulé
;
Ilke Arslan
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
71.
Strain Mapping of 45 nm MOSFET by Dark-Field Inline Electron Holography
机译:
45 nm MOSFET的暗场在线电子全息图应变映射
作者:
V.B. ?zd?l
;
C.T. Koch
;
P.A. van Aken
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
72.
Site-Specific Plan-View Sample Preparation in the FIB
机译:
FIB中特定于站点的平面图样品制备
作者:
S. McKernan
;
Y. Zhu
;
J Xie
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
73.
A Real Time Observation of Phase Transition of Anatase TiO2 Nanotubes into Rutile Particles by in situ Joule Heating Inside a Transmission Electron Microscope
机译:
透射电子显微镜内原位焦耳加热实时观察锐钛矿型TiO2纳米管向金红石相变的实时观察
作者:
Anjana Asthana
;
Tolou Shokuhfar
;
Qi Gao
;
Patricia A. Heiden
;
Craig Friedrich
;
Reza. S. Yassar
会议名称:
《》
|
2010年
74.
Optical and Structural Characterization of a-Si Thin Film Solar Absorbers
机译:
非晶硅薄膜太阳吸收剂的光学和结构表征
作者:
George Atanasoff
;
Amogh Mudgal
;
Li-Chung Lai
;
Wen-An Chiou
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
75.
Composition Modulation in High-k Hafnium Silicate Films
机译:
高k硅酸Ha薄膜的成分调制
作者:
X. Wu
;
J. Liu
;
W. N. Lennard
;
D. Landheer
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
76.
Scanning Electron Microscopy Characterization of Carbon Steel Fractured by Pressure while Exposed to Cryogenic Temperatures
机译:
暴露于低温下受压断裂的碳钢的扫描电子显微镜表征
作者:
M. W. Pendleton
;
C. Mazzella
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
77.
Twice Flipped - Avoiding Milling Curtains in FIB Prepared TEM Specimens of Nano-Electronics Devices
机译:
两次翻转-避免在FIB制备的纳米电子设备TEM样品中铣削窗帘
作者:
Jerzy Gazda
;
Jorge Duarte
;
Fawn Daby-Merrill
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
78.
Geometric Limits on Spatial Resolution for Cs-Corrected STEM Analysis of Thick TEM Lamellae
机译:
Cs校正厚TEM薄片的STEM分析的空间分辨率几何极限
作者:
J. Bruley
;
J. Ringnalda
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
79.
Aberration-corrected Electron Microscopy Studies of Novel Nanostructures in Highly Aligned Nano-twinned Metals
机译:
高度对准的纳米孪晶金属中新型纳米结构的像差校正电子显微镜研究
作者:
K. Yoshida
;
C. Shute
;
E.D. Boyes
;
P.L. Gai
;
J.R. Weertman
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
80.
Focused Ion Beam investigations on Cement based Materials in aggressive aqueous environments
机译:
在侵蚀性水性环境中对水泥基材料进行离子束研究的重点
作者:
M. Schwotzer
;
T. Scherer
;
Ch. Kübel
;
A. Gerdes
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
81.
Self-assembled Amphiphilic Block Copolymers
机译:
自组装两亲嵌段共聚物
作者:
H. Friedrich
;
B. McKenzie
;
P.H.H. Bomans
;
Z. Deng
;
F. Nudelman
;
S.J. Holder
;
G. de With
;
N.A.J.M. Sommerdijk
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
82.
3D Elemental Mapping in Nanomaterials by Core-Loss EFTEM Tomography
机译:
纳米材料中的3D元素损失/ EFTEM层析成像
作者:
N.Y. Jin-Phillipp
;
C.T. Koch
;
P. A. van Aken
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
83.
Performance of the DDD as a Direct Electron Detector for Low Dose Electron Microscopy
机译:
DDD作为低剂量电子显微镜直接电子检测器的性能
作者:
L. Jin
;
R. Bilhorn
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
84.
Electron Microscopy Studies of V-P-O Catalyst Precursors: Defining the Dihydrate to Hemihydrate Phase Transformation
机译:
V-P-O催化剂前体的电子显微镜研究:将二水合物转变为半水合物
作者:
W. Weng
;
R. Al Otaibi
;
N.F. Dummer
;
J.K. Bartley
;
G.J. Hutchings
;
C.J. Kiely
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
85.
Electron Microscopy Study of Interfaces of Proton Conducting Fuel Cell Anodes
机译:
质子传导燃料电池阳极界面的电子显微镜研究
作者:
D.M. Kepaptsoglou
;
Q.M. Ramasse
;
M.F. Sunding
;
S.Diplas
;
T. Norby
;
A.E. Gunn?s
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
86.
Microscopy and Chemical Inversing Techniques to Determine the Photonic Crystal Structure of Iridescent Beetle Scales in the Cerambycidae Family
机译:
显微镜和化学反演技术来确定天牛科的虹彩甲虫鳞片的光子晶体结构。
作者:
L.R. Richey
;
J.S. Gardner
;
M.D. Standing
;
M.R. Jorgensen
;
M.H. Bartl
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
87.
EBSD Multiphase Preparation: U-10Mo, Zr, Al
机译:
EBSD多相制备:U-10Mo,Zr,Al
作者:
Carl Necker
;
Ann Kelly
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
88.
Electron Energy Loss Spectroscopy of thermochromic V_2O_5
机译:
热变色V_2O_5的电子能量损失谱
作者:
D. Carrillo-Flores
;
M.T.Ochoa-Lara
;
F. Espinosa-Maga?a
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
89.
In-Situ TEM studies of Lithium Ion Battery
机译:
锂离子电池的原位TEM研究
作者:
C. M. Wang
;
W. Xu
;
B. W. Arey
;
L. V. Saraf
;
D. W. Choi
;
J. Liu
;
Z. G. Yang
;
J. G. Zhang
;
S. Thevuthasan
;
D. R. Baer
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
90.
Application of 2D and 3D Optical Microscopy in the Examination of Suspect Counterfeit Pharmaceutical Tablets
机译:
2D和3D光学显微镜在可疑假药片剂检验中的应用
作者:
S. Frank Platek
;
Nicola Ranieri
;
Douglas C. Albright
;
Mark W. Witkowski
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
91.
A Simple Method to Measure Graphite Thickness with Monolayer Precisionusing Plasmon Energy Loss Imaging
机译:
等离子层能量损失成像的单层精度测量石墨厚度的简单方法
作者:
M. Boese
;
S. Kumar
;
M. Lotya
;
A. O’Neill
;
H. Z. Zhang
;
J. N. Coleman
;
G. S. Duesberg
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
92.
One Million EEL Spectra Acquisition with Aberration-Corrected STEM: 2-D Chemical Investigation of a Statistically Significant Ensemble of Nanocatalysts
机译:
畸变校正STEM采集一百万EEL光谱:具有统计学意义的纳米催化剂整体的二维化学研究
作者:
Huolin L. Xin
;
Julia A. Mundy
;
Randi Cabezas
;
Lena Fitting Kourkoutis
;
David A. Muller
;
Vic Liu
;
Junliang Zhang
;
Nalini Subramanian
;
Rohit Makharia
;
Frederick T. Wagner
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
93.
Imaging and Spectroscopy of Interfaces and Surfaces with Advanced Electron Microscopy
机译:
界面和表面的成像和光谱学与先进的电子显微镜
作者:
Y. Zhu
;
H. Inada
;
D. Su
;
L. Wu
;
J. Ciston
;
Ch. Jooss
;
J. Norpoth
;
J. Wall
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
94.
Microscopy of the Spinel-Forming Reaction with Nanoparticles
机译:
尖晶石形成与纳米粒子反应的显微镜
作者:
J.P. Winterstein
;
M. Sezen
;
A. Re?nik
;
C.B. Carter
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
95.
Structural Analysis of Proteobacteria-Phage Interactions
机译:
细菌-噬菌体相互作用的结构分析
作者:
R. Guerrero-Ferreira
;
E. R. Wright
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
96.
Limitations in Detecting a Single Dopant Atom Inside a Bulk Specimen
机译:
检测块状样品中单个掺杂原子的局限性
作者:
Anudha Mittal
;
K. Andre Mkhoyan
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
97.
Mapping Intrinsic Electric Fields Through Off-Axis Electron Holography: Prospects and Problems
机译:
通过离轴电子全息图绘制固有电场的前景和问题
作者:
Falk R?der
;
Daniel Wolf
;
Axel Lubk
;
Matrin Linck
;
Karin Vogel
;
Andreas Lenk
;
Kenji Tsuda
;
Hannes Lichte
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
98.
Analysis Of Membrane Bilayers In Flavivirus And Alphavirus
机译:
黄病毒和甲病毒中膜双层的分析
作者:
Wei Zhang
;
B?rbel Kaufmann
;
Paul R. Chipman
;
Richard J. Kuhn
;
Michael G. Rossmann
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
99.
Is Microanalysis Possible in He+ Ion Microscopes?
机译:
He +离子显微镜可以进行微量分析吗?
作者:
David C Joy
;
Brendan Griffin
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
100.
Auger Microanalysis in Spacecraft Tribology
机译:
航天器摩擦学中的俄歇微分析
作者:
J. R. Lince
会议名称:
《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》
|
2010年
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