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蒋伟杰; 姚兴军;
华东理工大学机械与动力工程学院;
上海200237;
倒装芯片; 底部填充; 能量法; 能量守恒; 计算流体力学(CFD);
机译:底部填充和底部填充分层对倒装芯片焊点中的热应力的影响
机译:具有依赖于固化的底部填充性能的倒装芯片焊点疲劳研究
机译:倒装芯片的底部填充:接触角和焊锡凸点排列的影响
机译:底部填充对新开发的模块倒装芯片上焊点热疲劳可靠性的影响
机译:纳米填充底部填充材料在倒装芯片组件中界面裂纹扩展的研究。
机译:随机空隙的产生以及热冲击载荷对发光二极管倒装芯片焊点机械可靠性的影响
机译:倒装芯片组装和底部填充应力;用aTC4.1装配测试芯片测量并用有限元法分析
机译:密封倒装芯片型半导体器件的方法,选择芯片上芯片底部填充材料的方法以及倒装芯片型半导体器件
机译:同时使用未填充助焊剂底部填充材料和填充助焊剂底部填充材料制造倒装芯片的方法
机译:用于倒装芯片的底部填充材料-配备有印刷电路板,因此,完成的印刷电路板以及填充程度过高的过程将对填充不足的芯片进行测试
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