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基于65nm高速SRAM全定制设计

     

摘要

工艺进入65nm后,芯片集成度越来越高,器件的尺寸原来越小,加上走线宽度的减少,互连寄生效应越来越大,对SR AM的性能的影响也愈加显著.本文从全定制的设计流程出发,介绍了怎样实现SR AM不同功能模块之间的版图布局和IP的设计.在保证模块性能的同时,减少互连寄生对SRAM的影响,保证SRAM的高速运行.

著录项

  • 来源
    《电脑与电信》|2017年第7期|44-47|共4页
  • 作者单位

    深圳市国微电子股份有限公司,广东 深圳 518057;

    深圳市国微电子股份有限公司,广东 深圳 518057;

    深圳市国微电子股份有限公司,广东 深圳 518057;

    深圳市国微电子股份有限公司,广东 深圳 518057;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 存贮器;
  • 关键词

    SRAM; 全定制; 版图; 高速;

  • 入库时间 2023-07-25 09:38:27

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