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冯为蕾; 冯建华; 叶红飞; 张兴;
北京大学深圳研究生院 深圳518055;
北京大学微电子学研究院 北京100871;
脉宽收缩; 时钟抖动; 片上测量; 抖动测试; 累积寄存器;
机译:片上抖动频谱分析仪,可以阐明时钟抖动和电源噪声的原因
机译:具有非累积参考时钟抖动的二阶数字Bang-Bang锁相环的输出抖动性能
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机译:时钟和数据恢复电路的片上抖动测量和缓解技术
机译:使用基于加速度传感器的抖动测量来模拟和测试光学卫星上的微振动
机译:具有非累积参考时钟抖动的二阶数字Bang-bang锁相环的输出抖动性能
机译:相邻CCD移位寄存器中的相位方向多相时钟
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机译:测试电路的移位寄存器单元,用于实现时钟控制的移位寄存器测试架构(边界-扫描)
机译:产生脉宽调制信号的方法和装置,包括带有指针,测试电路和溢出寄存器的附加回路,从计数器连接到比较器
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