首页> 中文期刊> 《电子器件》 >基于功能的SoC可测试性设计及系统级调试

基于功能的SoC可测试性设计及系统级调试

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

可测试性设计技术是SoC设计中的一个重要技术.在设计8位SoC系统芯片时,不仅考虑到可测试性设计,而且还利用OCI模块上的JTAG接口.可以方便地与板级系统相结合,能够快速对芯片进行功能验证和系统调试,大大缩短产品的上市时间.

著录项

来源
《电子器件》 |2008年第4期|1210-1213|共4页
作者
黄嵩人; 魏敬和; 虞致国; 杨军;
展开▼
作者单位

中国电子科技集团第58研究所,江苏,无锡,214035;

中国电子科技集团第58研究所,江苏,无锡,214035;

中国电子科技集团第58研究所,江苏,无锡,214035;

东南大学专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
系统芯片; 可测试性设计; JTAG; 板级调试;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 基于随机测试的SoC系统级功能验证方法的研究 [J] . 杨珺 ,曹阳 ,马秦生 . 电子技术应用 . 2008,第012期
2. 利用UML-RT序列图支持基于事务的SoC系统级功能验证 [J] . 余金山 ,谭庆平 ,李暾 . 计算机工程与科学 . 2007,第003期
3. 惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys硅片调试解决方案缩短系统级芯片(SoC)制造者改善成品率的时间 [J] . . 国外电子测量技术 . 2008,第7期
4. 基于ESL的华睿2号SoC系统级架构设计 [J] . 刘静 ,周海斌 . 南京师范大学学报（工程技术版） . 2016,第004期
5. 美高森美携手Solectrix 推出基于SmartFusion2 SoC FPGA的系统级模块 [J] . . 单片机与嵌入式系统应用 . 2016,第006期
6. 5.11基于扫描链的SOC可测试性设计 [C] . 赵斌 ,常青 . 全国第十一届信号与信息处理、第五届DSP应用技术联合学术会议 . 2007
7. 基于SOC架构的可测试性设计策略的研究 [A] . 倪怡芳 . 2007

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号