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声明
第1章绪论
1.1系统芯片SOC的概念
1.2 SOC测试面临的挑战
1.3基本SOC测试结构
1.3.1测试源和测试宿
1.3.2测试访问机制
1.3.3测试环
1.4论文的研究重点和章节安排
第2章SOC芯片测试结构
2.1 SOC与SOB测试的区别
2.2测试环基本结构
2.2.1测试环结构介绍
2.2.2 IEEE P1500与CTL介绍
2.3测试访问机制
2.3.1直接测试访问
2.3.2核透明化TAM机制
2.3.3基于总线的测试访问
2.3.4 CAS-BUS测试访问机制
2.4测试调度问题
2.4.1测试调度基本概念
2.4.2整数线性规划模型
2.4.3矩形装箱的测试调度
2.5本章小结
第3章虚拟TAM机制
3.1虚拟TAM机制
3.1.1虚拟TAM结构
3.1.2虚拟TAM结构参数确定
3.2测试时间下限的确定
3.3拉格朗日系数测试调度算法
3.3.1 NP问题描述
3.3.2测试调度问题描述
3.3.3拉格朗日测试调度
3.4虚拟TAM的缺陷与代价
第4章实验结果分析
4.1实验结果
4.2结论与分析
第5章总结与展望
参考文献
致谢