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双钙钛矿La2NiMnO6/Si薄膜异质结的电学特性研究

         

摘要

通过激光脉冲沉积法(PLD)在Si衬底上沉积了双钙钛矿结构La2 NiMnO6(LNMO)薄膜.用HP4284A LGR仪等分析测试手段研究了薄膜异质结的电流-电压特性和电容-电压特性.结果表明LaNiMnO6/Si异质结也表现出了与传统相似的P-n整流特性.

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