基于离散教与学算法的半导体芯片终端测试阶段调度问题研究

摘要

半导体芯片终端测试阶段是整个芯片制造过程中影响成品率、生产成本的重要工艺阶段,为满足大批量生产需求,如何利用有限设备在最短时间内完成客户订单是十分重要的研究课题。结合半导体芯片终端测试阶段的工艺特点,建立了终端测试阶段的调度问题模型,即一类多约束不相关并行机调度问题模型,并提出一种离散化教与学算法进行求解。通过算法对比实验验证了所提算法的有效性,该算法可在较短时间内获得芯片终端测试阶段调度问题的近似最优解,对降低成本、提高生产效率有重要意义。