The Ohio State University.;
机译:极端温度4H-SIC JFET集成电路寿命限制介质裂缝的试验研究
机译:基于ECL的SiC逻辑电路可用于极端温度
机译:用于在低于600摄氏度的低温下制造的外围电路集成多晶硅TFT LCD的CMOS电路
机译:逆变腿部配置中常压SiC JFET的高温反短路功能
机译:高功率密度高温液冷SiC逆变器系统
机译:用于片上温度监控的CMOS-SOI集成温度感测电路的研究
机译:评估SiC BJT与再生比例基础驱动电路的断开状态基 - 发射极电压要求及其在逆变器中的应用