University of South Florida.;
机译:动态应力对在互补金属氧化物半导体逆变器中在高温下工作的带有SiON栅极电介质的纳米级n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性的影响
机译:热载流子可靠性和低频噪声对纳米级n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中沟道应力的依赖性
机译:结晶氧化oxide基金属氧化物半导体结构的纳米级电学和形态学特性之间的相关性
机译:纳米级金属氧化物半导体场效应晶体管中低频噪声的紧凑模型
机译:MOS器件超薄氧化物的可靠性表征和失效机理。
机译:利用氧化物半导体化学电阻器检测植物激素乙烯的新策略:超高的气体选择性和纳米级Cr2O3催化层定制的响应
机译:特刊。表面精加工电子零件。环氧模塑化合物粘合性能对半导体器件可靠性的影响。
机译:与金属氧化物半导体(mOs)器件可靠性相关的绝缘薄膜物理研究。