University of Maryland, College Park.;
机译:正偏置温度不稳定性中的负阈值电压漂移和掺钇的HfO_2栅介质的负偏置温度不稳定性的正阈值电压漂移的研究
机译:系统级的变化感知老化模拟器,使用统一的新型栅极延迟模型处理偏置温度不稳定性,热载流子注入和栅极氧化物击穿
机译:Ni-FUSI栅电极的结晶相对HfSiON MOSFET的偏置温度不稳定性和栅介电击穿的影响
机译:由于偏置温度不稳定性,热载流子注入和栅极氧化物击穿而导致基于FinFET的SRAM可靠性下降的建模
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:研究欧洲车辆油箱中典型温度条件的实验研究
机译:先进栅极介质的偏置温度不稳定和渐进性崩溃的实验研究