Degradation; Human computer interaction; Stress; SRAM cells; Threshold voltage; Logic gates; Integrated circuit modeling;
机译:系统级的变化感知老化模拟器,使用统一的新型栅极延迟模型处理偏置温度不稳定性,热载流子注入和栅极氧化物击穿
机译:内置自检功能,用于嵌入式DRAM中的偏置温度不稳定性,热载流子注入和栅氧化层击穿
机译:偏置温度不稳定性和热载流子注入导致微处理器可靠性下降的系统级建模
机译:基于FINFET的SRAM的可靠性降解模型偏置温度不稳定性,热载体喷射和栅极氧化栅击穿
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:CCl4肝硬化大鼠肝脏中NO的生物利用度低可能归因于NO合成低以及超氧化物歧化酶活性降低从而允许超氧化物介导的NO分解:两种门脉高压大鼠模型与健康对照组的比较
机译:单层石墨烯场效应晶体管中的热载流量降解和偏置 - 温度不稳定性:相似性和差异