The George Washington University.;
机译:图案化铜互连结构中界面扩散引起的应力松弛的数值模拟和实验测量
机译:同时进行X射线衍射和电阻率测量来表征电镀铜薄膜中的室温再结晶动力学
机译:纳米铜膜电阻率的实验与模拟研究
机译:纳米级薄膜和互连的电阻率:模型和仿真
机译:通过表面电阻率测量研究了铜(100)膜上吸附物的相互作用。
机译:Cr2AlC薄膜的原位电阻率测量法远程跟踪相变
机译:利用厚抗蚀剂薄膜实际测量的邻近光刻模拟研究
机译:纳米级薄膜和线路互连有效电阻率建模仿真程序的实现