二硫化锡/硅异质结的光电子学应用研究

目录

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第一章绪论

1.1引言

1.2二硫化锡

1.2.1二硫化锡的晶体结构

1.2.2二硫化锡的能带结构

1.2.3二硫化锡的光学特性

1.3异质结构光电探测器

1.3.1异质结

1.3.2异质结构光电探测器的构筑方法

1.3.3异质结构光电探测器的工作原理

1.3.4异质结构光电探测器的工作参数

1.3.5异质结构光电探测器的研究现状

1.4论文的选题依据及内容

第二章二硫化锡的制备方法与表征手段

2.1 二硫化锡的制备方法

2.2 二硫化锡的表征手段

第三章 二硫化锡薄膜/硅异质结的制备与物性表征

3.1引言

3.2 二硫化锡薄膜的制备

3.2.1二硫化锡前驱体制备

3.2.2二硫化锡薄膜的后退火处理

3.3结果与讨论

3.3.1形貌分析

3.3.2结构分析

3.4整流特性

3.5 不同退火温度对二硫化锡薄膜的影响

3.5.1不同退火温度对表面形貌的影响

3.5.2不同退火温度对拉曼光谱的影响

3.6本章小结

第四章 二硫化锡/硅异质结光电探测器的研究

4.1引言

4.2 探测器的制备

4.2.1 电极的选取和制备

4.2.2 光电探测器的外部连接

4.3光电探测器的性能表征

4.3.1器件的光电传输特性

4.3.2器件的光电流开关特性

4.3.3在405nm光照射下，器件的综合参数表征

4.3.4器件的带宽表征

4.3.5器件的稳定性表征

4.3.6器件的能带机理分析

4.4本章小结

第五章结论

5.1主要成果

5.2主要创新点

5.3工作展望

参考文献

攻读硕士期间发表的论文

致谢