Al2O3多层膜阻变特性及BaTiO3物相分析研究

目录

声明

第一章 绪论

1.1引言

1.2电阻式随机存储器(ReRAM)

1.2.1忆阻器的介绍

1.2.2电阻开关现象

1.3本论文的研究意义和内容

1.3.1本论文的研究意义

1.3.2本论文的研究内容

第二章 BaTiO3薄膜的光电性质及其物相分析

2.1 BaTiO3薄膜的制备

2.2BaTiO3薄膜的光电性质及其物相分析

2.2.1BaTiO3薄膜的光电特性

2.2.2BaTiO3样品物相分析

2.3本章总结

第三章 ITO/BiFeO3/Al2O3/Ag多层膜阻变特性

3.1ITO/BiFeO3/Al2O3/Ag薄膜的制备

3.2ITO/BiFeO3/Al2O3/Ag薄膜的开关特性研究

3.2.1ITO/BiFeO3/Al2O3/Ag薄膜电阻开关特性曲线

3.2.2ITO/BiFeO3/Al2O3/Ag薄膜电阻开关机理解释

3.3本章总结

第四章 Si/Pt/Al2O3/BiFeO3/ITO多层膜阻变特性

4.1Si/Pt/Al2O3/BiFeO3/ITO器件制备

4.2Si/Pt/Al2O3/BiFeO3/ITO薄膜的电阻开关特性

4.3本章总结

第五章 结论

参考文献

硕士期间发表论文情况

致谢