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目录
第一章 绪论
1.1 引言
1.2芯片测试概述
1.3课题内容、背景与意义
1.4论文结构与课题任务
第二章 集成电路测试系统简介
2.1自动测试系统
2.2测试板
2.3自动分料机
第三章 电源管理芯片基本原理
3.1电源管理器芯片概述
3.2低压差线性稳压器(LDO)
3.3电感控制转换器(Regulator)
3.4电荷泵(Charge Pump)
第四章 飞思卡尔电源管理器(APLITE)的测试研究
4.1芯片基本功能指标
4.2 APLITE的引脚功能及指标
4.3芯片主要功能模块
4.4 APLITE的测试模块
第五章 关于APLITE测试成本降低的研究
5.1接触问题研究与解决
5.2针对主要次品的分析以及良品率的提升
5.3测试并行度的改进:x1到x4的转化
第六章 结束语
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢