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Asian Test Symposium
Asian Test Symposium
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1.
A reseeding technique for LFSR-based BIST applications
机译:
基于LFSR的BIST应用程序的重新研究
作者:
Nan-Cheng Lai
;
Sying-Jyan Wang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
2.
Easily testable and fault-tolerant design of FFT butterfly networks
机译:
FFT蝴蝶网络易于耐用和容错设计
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Chien-Hung Yeh
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
3.
Test time reduction for I{sub}(DDQ) testing by arranging test vectors
机译:
通过安排测试向量来测试I {sub}(DDQ)测试的时间减少
作者:
Hiroyuki Yotsuyanagi
;
Masaki Hashizume
;
Takeomi Tamesada
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
4.
Test scheduling and test access architecture optimization for system-on-chip
机译:
测试调度和测试访问架构对系统系统的优化
作者:
Huan-Shan Hsu
;
Jing-Reng Huang
;
Kuo-Liang Cheng
;
Chih-Wea Wang
;
Chih-Tsun Huang
;
Cheng-Wen Wu
;
Youn-Long Lin
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
5.
An embedded built-in-self-test approach for analog-to-digital converters
机译:
模拟转换器的嵌入式内置自检方法
作者:
Sheng-Hung Hsieh
;
Ming-Jun Hsiao
;
Tsin-Yuan Chang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
6.
Diagnosis of Byzantine open-segment faults
机译:
拜占庭露天段故障的诊断
作者:
Shi-Yu Huang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
7.
A SoC test strategy based on a non-scan DFT method
机译:
基于非扫描DFT方法的SOC测试策略
作者:
Hiroshi Date
;
Toshinori Hosokawa
;
Michiaki Muraoka
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
SoC test;
Non-scan DFT;
High level design and test;
8.
CMOS floating gate defect detection using I{sub}(DDQ) test with power supply superposed by AC component
机译:
CMOS浮动栅极缺陷检测使用I {SUB}(DDQ)测试,通过AC组件叠加电源
作者:
Hiroyuki Michinishi
;
Tokumi Yokohira
;
Takuji Okamoto
;
Toshifumi Kobayashi
;
Tsutomu Hondo
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
9.
A partitioning and storage based built-in test pattern generation method for delay faults in scan circuits
机译:
扫描电路延迟故障的基于分区和基于存储模式生成方法
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
10.
On generating high quality tests for transition faults
机译:
在为过渡故障产生高质量测试
作者:
Yun Shao
;
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
11.
A testing scheme for crosstalk faults based on the oscillation test signal
机译:
基于振荡测试信号的串扰故障测试方案
作者:
Ming Shae Wu
;
Chung Len Lee
;
Chi Peng Chang
;
Jwu E. Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
12.
Extending EDA environment from design to test
机译:
从设计中扩展EDA环境以测试
作者:
Rochit Rajsuman
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Event tester;
Test environment;
Test format;
EDA environment;
13.
Experimental results of a recovery block scheme to handle noise in speech recognition systems
机译:
用于处理语音识别系统噪声的恢复块方案的实验结果
作者:
Fabian Vargas
;
Rubem D. R. Fagundes
;
Daniel Barros Jr.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Digital signal processing (DSP);
Speech-recognition systems (SRS);
Noise immunity;
On-line testing;
Recovery blocks scheme;
Performance degradation;
14.
A totally self-checking dynamic asynchronous datapath
机译:
完全自检动态异步数据路径
作者:
Jing-Ling Yang
;
Chiu-Sing Choy
;
Cheong-Fat Chan
;
Kong-Pong Pun
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Totally self-checking;
Asynchronous datapath;
Differential cascade voltage switch logic;
Divider;
15.
Enhanced crosstalk fault model and methodology to generate test for arbitrary inter-core interconnect topology
机译:
增强的串扰故障模型和方法生成任意核心互连拓扑的测试
作者:
Wichian Sirisaengtaksin
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
16.
Embedded test solution as a breakthrough in reducing cost of test for system on chips
机译:
嵌入式测试解决方案作为降低芯片系统测试成本的突破
作者:
Kazuhiko Iijima
;
Armagan Akar
;
Charlie McDonald
;
Dwayne Burek
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
17.
Evolutionary test program induction for microprocessor design verification
机译:
微处理器设计验证的进化测试程序诱导
作者:
Fulvio Corno
;
Gianluca Cumani
;
Matteo Sonza Reorda
;
Giovanni Squilero
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
18.
Hierarchical fault simulation using behavioral and gate level hardware models
机译:
使用行为和门级硬件模型进行分层故障仿真
作者:
Shahrzad Mirkhani
;
Meisam Lavasani
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
19.
A scheduling method in high-level synthesis for acyclic partial scan design
机译:
用于非循环部分扫描设计的高电平合成的调度方法
作者:
Tomoo Inoue
;
Tomokazu Miura
;
Akio Tamura
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
20.
Optimal seed generation for delay fault detection BIST
机译:
延迟故障检测BIST的最佳种子生成
作者:
Lihong Tong
;
Kazuki Suzuki
;
Hideo Ito
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
21.
Testing system-on-chip by summations of cores' test output voltages
机译:
通过核心的测试输出电压的总结测试片上系统
作者:
K. Y. Ko
;
Mike W. T. Wong
;
Y. S. Lee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
22.
An analytic software testability model
机译:
分析软件可测试性模型
作者:
Jin-Cherng Lin
;
Szu-Wen Lin
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
23.
Manufacturing test of SoCs
机译:
SOCS的制造测试
作者:
Rohit Kapur
;
T. W. Williams
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
24.
Robust space compaction of test responses
机译:
测试响应的鲁棒空间压实
作者:
Alexej Dmitriev
;
Michael Gossel
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
25.
A fault-tolerant architecture for symmetric block ciphers
机译:
对称块密码的容错架构
作者:
Min-Kyu Joo
;
Jin-Hyung Kim
;
Yoon-Hwa Choi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
26.
Testable realizations for ESOP expressions of logic functions
机译:
用于逻辑函数的ESOP表达式的可测试的实现
作者:
Pan Zhongliang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
27.
An evolutionary strategy to design an on-chip test pattern generator without prohibited pattern set (PPS)
机译:
在没有禁止模式集(PPS)的芯片测试图案发生器的进化策略(PPS)
作者:
Niloy Ganguly
;
Anindyasundar Nandi
;
Sukanta Das
;
Biplab K. Sikdar
;
P. Pal Chaudhuri
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
28.
Effects of amplitude modulation in jitter tolerance measurements of communication devices
机译:
幅度调制在通信设备抖动公差测量中的影响
作者:
Masahiro Ishida
;
Takahiro J. Yamaguchi
;
Mani Soma
;
Hirobumi Musha
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
29.
Non-scan design for testability based on fault oriented conflict analysis
机译:
基于故障导向冲突分析的可测试性非扫描设计
作者:
Dong Xiang
;
Shan Gu
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
30.
Test requirement analysis for low cost hierarchical test path construction
机译:
低成本等级试验路径建设试验要求分析
作者:
Yiorgos Makris
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
31.
A high performance IDDQ testable cache for scaled CMOS technologies
机译:
用于缩放CMOS技术的高性能IDDQ可测试缓存
作者:
Swarup Bhunia
;
Hai Li
;
Kaushik Roy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
32.
Improving the efficiency of static compaction based on chronological order enumeration of test sequences
机译:
基于试验序列的按时间顺序提高静压缩效率
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
33.
At-speed built-in test for logic circuits with multiple clocks
机译:
具有多个时钟的逻辑电路的速度内置测试
作者:
Kazumi Hatayama
;
Michinobu Nakao
;
Yasuo Sato
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
34.
DPSC SRAM transparent test algorithm
机译:
DPSC SRAM透明测试算法
作者:
Hong-Sik Kim
;
Sungho Kang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
March algorithm;
Transparent memory testing;
Memory BIST;
Dynamic power supply current;
35.
Fault set partition for efficient width compression
机译:
故障集分区以实现高效宽度压缩
作者:
Emil Gizdarski
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
36.
Crosstalk fault reduction and simulation for clock-delayed domino circuits
机译:
时钟延迟Domino电路的串扰故障减少和仿真
作者:
Kazuya Shimizu
;
Noriyoshi Itazaki
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
37.
Specification and design of a new memory fault simulator
机译:
新记忆故障模拟器的规范与设计
作者:
A. Benso
;
S. Di Carlo
;
G. Di Natale
;
P. Prinetto
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
38.
Fault detection and fault diagnosis techniques for lookup table FPGA's
机译:
查找表FPGA的故障检测和故障诊断技术
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Chung-Yang Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
39.
Effective automated testing: a solution of graphical object verification
机译:
有效的自动化测试:图形对象验证解决方案
作者:
Juichi Takahashi
;
Yoshiaki Kakuda
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Software testing;
Automated testing;
GUI testing;
Printing;
40.
Reduction of target fault list for crosstalk-induced delay faults by using layout constraints
机译:
使用布局约束减少串扰引起的延迟故障的目标故障列表
作者:
Keith J. Keller
;
Hiroshi Takahashi
;
Kim T. Le
;
Kewal K. Saluja
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
41.
Vector memory expansion system for T33XX logic tester
机译:
矢量内存扩展系统为T33XX逻辑测试仪
作者:
Kazuhiro Yamada
;
Yoshikazu Takahashi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
T33XX LSSD vector pattern DFT;
42.
Time slot specification based approach to analog fault diagnosis using built-in current sensors and test point insertion
机译:
基于时隙规范的模拟故障诊断方法使用内置电流传感器和测试点插入
作者:
Shambhu Upadhyaya
;
Jae Min Lee
;
Padmanabhan Nair
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
43.
Exact computation of maximally dominating faults and its application to n-detection tests
机译:
最大占主机故障的精确计算及其在N检测测试中的应用
作者:
Ilia Polian
;
Irith Pomeranz
;
Bernd Becker
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Fault dominance;
N-detection;
Formal techniques;
BDDs;
44.
MD-SCAN method for low power scan testing
机译:
用于低功耗扫描测试的MD扫描方法
作者:
Takaki Yoshida
;
Masafumi Watari
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
45.
A ROMless LFSR reseeding scheme for scan-based BIST
机译:
一种基于扫描的BIST的无ROMLEST LFSR预备方案
作者:
E. Kalligeros
;
X. Kavousianos
;
D. Nikolos
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
46.
Non-intrusive design of concurrently self-testable FSMs
机译:
非侵入性的自我验证FSMS的设计
作者:
Petros Drineas
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
47.
A method to reduce power dissipation during test for sequential circuits
机译:
一种减少顺序电路测试期间功耗的方法
作者:
Yoshinobu Higami
;
Shin-Ya Kobayashi
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Test generation;
Power dissipation;
Sequential circuit;
Stuck-at fault;
48.
Tests for word-oriented content addressable memories
机译:
对以字线内容可寻址存储的测试
作者:
Zhao Xuemei
;
Ye Yizheng
;
Chen Chunxu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Spot defects;
Functional fault models;
Content addressable memories;
Word-oriented CAM;
March algorithm;
49.
Maximum distance testing
机译:
最大距离测试
作者:
Shiyi Xu
;
Jianwen Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Random testing;
Hamming distance;
Cartesian distance;
Maximum distance testing;
Fault coverage;
50.
DRAM specific approximation of the faulty behavior of cell defects
机译:
细胞缺陷故障行为的DRAM特定近似
作者:
Zaid Al-Ars
;
Ad J. van de Goor
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Memory specific fault analysis;
Approximating dynamic behavior;
DRAM;
Memory testing;
51.
A simple wrapped core linking module for SoC test access
机译:
用于SOC测试访问的简单包装核心链接模块
作者:
Jaehoon Song
;
Sungju Park
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
52.
Test data compression using don't-care identification and statistical encoding
机译:
使用非护理识别和统计编码测试数据压缩
作者:
Seiji Kajihara
;
Kenjiro Taniguchi
;
Kohei Miyase
;
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Test compression;
Don't care identification;
Huffman's algorithm;
Test generation;
53.
Efficient circuit specific pseudoexhaustive testing with cellular automata
机译:
用蜂窝自动机的高效特定于特定的假伪潜气测试
作者:
Santanu Chattopadhyay
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Test pattern generators;
Pseudoexhaustive testing;
Cellular automata;
54.
On-chip analog response extraction with 1-bit ∑-△ modulators
机译:
用1位Σ-△调制器提取片上模拟响应提取
作者:
Hao-Chiao Hong
;
Jiun-Lang Huang
;
Kwang-Ting Cheng
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
55.
A state reduction method for non-scan based FSM testing with don't care inputs identification technique
机译:
基于非扫描的FSM测试的状态缩减方法,不关心输入识别技术
作者:
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Date
;
Michiaki Muraoka
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
finite state machines;
Design for testability;
Don't care inputs identification;
Valid test states;
Invalid test states;
State reduction;
56.
On-chip tap-delay measurements for a digital delay-tine used in high-speed inter-chip data communications
机译:
用于高速芯片数据通信中使用的数字延迟齿的片上抽头延迟测量
作者:
Octavian Petre
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
57.
Effective error diagnosis for RTL designs in HDLs
机译:
HDLS中RTL设计的有效误差诊断
作者:
Tai-Ying Jiang
;
Chien-Nan Jimmy Liu
;
Jing-Yang Jou
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
58.
A test point insertion method to reduce the number of test patterns
机译:
减少测试模式数量的测试点插入方法
作者:
Masayoshi Yoshimura
;
Toshinori Hosokawa
;
Mitsuyasu Ohta
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
59.
Test scheduling of BISTed memory cores for SOC
机译:
考验SOC的Bisted Memory Cores的调度
作者:
Chih-Wea Wang
;
Jing-Reng Huang
;
Yen-Fu Lin
;
Kuo-Liang Cheng
;
Chih-Tsun Huang
;
Chen-Wen Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
60.
Testing embedded systems by using a C++ script interpreter
机译:
使用C ++脚本解释器测试嵌入式系统
作者:
Harald J. Zainzinger
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
61.
Design for two-pattern testability of controller-data path circuits
机译:
控制器数据路径电路的两种模式可测试性设计
作者:
Md. Altaf-Ul-Amin
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
62.
A concurrent fault simulation for crosstalk faults in sequential circuits
机译:
顺序电路中串扰故障的并发故障模拟
作者:
Marong Phadoongsidhi
;
Kim T. Le
;
Kewal K. Saluja
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
63.
Reducing test application time and power dissipation for scan-based testing via multiple clock disabling
机译:
通过多时钟禁用减少基于扫描的测试的测试时间和功耗
作者:
Kuen-Jong Lee
;
Jih-Jeen Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
64.
Core-clustering based SoC test scheduling optimization
机译:
基于核心聚类的SoC测试调度优化
作者:
Yu Huang
;
Reddy S.M.
;
Wu-Tung Cheng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
system-on-chip;
integrated circuit testing;
scheduling;
bin packing;
automatic testing;
optimisation;
logic testing;
core-clustering based SoCs;
SoC test scheduling optimization;
optimal test completion time;
optimal core clustering;
core cluster wra;
65.
Integrated test scheduling, test parallelization and TAM design
机译:
集成测试调度,测试并行化和TAM设计
作者:
Erik Larsson
;
Klas Arvidsson
;
Hideo Fujiwara
;
Zebo Peng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
66.
Test limitations of parametric faults in analog circuits
机译:
模拟电路参数故障的测试限制
作者:
Jacob Savir
;
Zhen Guo
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
67.
Core - clustering based SOC test scheduling optimization
机译:
基于核心聚类的SOC测试调度优化
作者:
Yu Huang
;
Sudhakar M. Reddy
;
Wu-Tung Cheng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
68.
Statistical analysis of time series data on the number of faults detected by software testing
机译:
软件测试检测到的故障数量的时间序列数据统计分析
作者:
Sousuke Amasaki
;
Takashi Yoshitomi
;
Osamu Mizuno
;
Tohru Kikuno
;
Yasunari Takagi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Software testing;
Software quality;
Statistical analysis;
69.
High precision result evaluation of VLSI
机译:
高精度效果评估VLSI
作者:
Junichi Hirase
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
70.
Test time reduction for I/sub DDQ/ testing by arranging test vectors
机译:
通过安排测试向量来测试I / SUB DDQ /测试的时间减少
作者:
Yotsuyanagi H.
;
Hashizume M.
;
Tamesada T.
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
combinational circuits;
integrated circuit testing;
logic testing;
CMOS logic circuits;
CMOS combinational circuit I/sub DDQ/ testing;
test time reduction;
test vector arrangement;
fault/defect detection;
logic testing;
switching current;
unit delay;
71.
An access timing measurement unit of embedded memory
机译:
嵌入式内存的访问时序测量单元
作者:
Shu-Rong Lee
;
Ming-Jun Hsiao
;
Tsin-Yuan Chang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
72.
Recent advances in test planning for modular testing of core-based SOCs
机译:
基于核心的SOC模块化测试的测试计划的最新进展
作者:
Vikram Iyengar
;
Krishnendu Chakrabarty
;
Erik Jan Marinissen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
73.
Test power optimization techniques for CMOS circuits
机译:
CMOS电路测试电源优化技术
作者:
Zuying Luo
;
Xiaowei Li
;
Huawei Li
;
Shiyuan Yang
;
Yinghua Min
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Test pattern;
Test power;
Power optimization;
Hamming distance;
74.
A new learning approach to design fault tolerant ANNs: finally a zero HW-SW overhead
机译:
一种设计容错Anns的新学习方法:最后是零HW-SW开销
作者:
Fabian Vargas
;
Djones Lettnin
;
Diogo Brum
;
Darcio Prestes
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2002年
关键词:
Artificial neural networks;
Mutation analysis;
Fault-tolerant computing systems;
Reliability estimation;
Electrocardiogram recognition;
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