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易茂祥; 梁华国; 王伟; 张磊;
合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
合肥工业大学计算机与信息学院;
系统芯片; 测试应用时间; 测试数据压缩; 芯核联合; 重配置;
机译:基于人工智能的测试调度技术最小化芯片系统的测试时间
机译:用于基于内核的系统芯片的测试体系结构设计的测试时间减少算法
机译:测试系统减少了测试时间并降低了制造成本
机译:一种降低系统上芯片测试时间的DFT选择方法
机译:测试数据分析:探索隐藏模式以降低测试成本和芯片表征。
机译:医生的测试时间:在进行HIV测试之前为患者提供咨询。
机译:用于测试时间减少系统式设计的多码压缩方案
机译:使用磨损信息降低可靠性演示测试时间
机译:包含内置自测电路的CMOS图像传感器,尤其可通过减少像素测试和模拟数字转换器测试所需的测试时间来降低芯片制造成本
机译:测试支持系统,方法和计算机程序产品,可优化测试方案以最大程度地减少总测试时间
机译:机器人移动平台的耐用性评估系统及耐用性评估方法,可降低测试成本和测试时间
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