并行VHDL模拟中故障诊断技术的研究与实现

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本文对并行VHDL模拟中故障诊断技术的实现进行了研究。文章介绍了并行VHDL模拟的基本原理并详细描述了时间偏差协议。针对并行VHDL模拟系统的特点，我们提出了一个故障分类方案，定义了并行逻辑模拟系统中可能出现的故障及判断的方法，为故障诊断的实现提供了一个可行的方案。然后，根据时间偏差协议的特点，充分利用系统中传递的模拟消息，设计和实现了一个高效率的故障诊断方案。

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作者
陆广远;
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作者单位

上海大学;

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授予单位上海大学;
学科计算机应用技术
授予学位硕士
导师姓名吴悦;
年度 2005
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 芯片测试; 逻辑模拟;

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