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张晓朋;
西安电子科技大学;
4H碳化硅器件; 缓变基区; CVD工艺; 外延生长; 均匀掺杂; 电流增益; X衍射光谱;
机译:新型外延钝化结构的高电流增益4H-SiC BJT
机译:外延结复合结构的4H-SiC BJT
机译:双基外延层4H-SiC BJT的高温表征
机译:双基外延层的4H-SiC BJT多层外延生长与制备
机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:基于P型4H-SiC外延层的压阻特性定量分析。
机译:温度和切换率对高压硅和4H-SiC NPN BJTS动态瞬态的影响:技术评价
机译:基于4H-siC的BJT到200℃的静态和开关特性
机译:具有4H-SiC n型外延层的肖特基势垒检测器件
机译:液相外延半导体工艺研究
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