ULSI Device Development Labs NEC Corporation 1120 Shimokuzawa Sagamihara Kanagawa 229 Japan;
机译:文件应用中Gb级DRAM的电荷循环刷新
机译:具有高速晶片级IO测试方案和考虑温度分布的自适应刷新功能的1.2 V 20 nm 307 GB / s HBM DRAM
机译:块解码的读出放大器驱动器,用于DRAM的高速感测
机译:具有用于Gb DRAM的分离式驱动器读出放大器的交叉电荷循环刷新方案
机译:具有保留功能的DRAM自动刷新方案可提高能源效率和性能
机译:保留感知DRAM自动刷新方案,用于能量和性能效率