机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
机译:YBa2Cu3Ox薄膜的表面和界面结构的高分辨率同步加速器X射线散射研究
机译:基于同步加速器的x射线衍射法测定In_2O_3的(001)和(111)取向薄膜的泊松比
机译:通过同步分辨率衍射的B_4C和SiC薄膜的结构测定
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:同步辐射光电子衍射法测定SiC(0001)上双层石墨烯的结构
机译:基于同步加速器的X射线衍射测定In2O3(001)和(111)取向薄膜的泊松比
机译:低能电子衍射法在过渡金属单晶表面生长的结晶离子薄膜的表面结构测定