机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
GaN; SiC; defects; synchrotron topography;
机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
机译:beta-Al4.5FeSi:结合的同步加速器粉末衍射,电子衍射,高分辨率电子显微镜和单晶X射线衍射研究缺陷结构
机译:使用高分辨率数码相机宽带隙半导体中晶体缺陷的X射线地形
机译:SiC衬底,外延层和器件中缺陷的同步白光X射线形貌和高分辨率三轴X射线衍射研究
机译:同步加速器白束X射线形貌分析宽带隙半导体单晶的缺陷
机译:单晶同步加速器X射线衍射结合扫描透射电镜测定η -Fe3Al7 + x的晶体结构
机译:高分辨率透射电子显微镜和掠入射X射线衍射观察到的热退火对区域规则聚(3-烷基噻吩)的旋涂薄膜的半结晶纳米形态的影响
机译:LGX和sXGs大块单晶,薄膜和压电器件的同步加速器白光束X射线形貌表征