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Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.
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1.
The use of X-ray topography to map mechanical, thermomechanical, and wire-bond strain fields in packaged integrated circuits
机译:
使用X射线地形图绘制封装集成电路中的机械,热机械和引线键合应变场
作者:
Patrick J.McNally
;
R.Rantamaki
;
John W.Curley
;
T.Tuomi
;
A.N.Danilewsky
;
P.A.F.Herbert
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
2.
Surface stress effects on the critical thickness of thin-film superlattices
机译:
表面应力对薄膜超晶格临界厚度的影响
作者:
K.C.Cammarata
;
K.Sieradzki
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
3.
Stress evolution in sputtered FCC metal multilayers
机译:
溅射的FCC金属多层中的应力演化
作者:
Vidya Ramaswamy
;
William D.Nix
;
Bruce M.Clemens
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
4.
Stress evolution and notch formation during polysilicon gate electrode etching
机译:
多晶硅栅电极蚀刻过程中的应力演化和缺口形成
作者:
Michael A.Vyvoda
;
David B.Graves
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
5.
TEM study of yielding in polycrystaline gold thin films
机译:
多晶金薄膜屈服的TEM研究
作者:
Kwame Owusu-Boahen
;
Alexander H.King
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
6.
The hardness and wear of electrochemically grown tantalum oxide
机译:
电化学生长钽氧化物的硬度和磨损
作者:
A.W.Mulivor
;
A.B.Mann P.C.Searson
;
T.P.Weihs
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
7.
The relationship between near-surface mechanical properties, loading rate, and surface chemistry
机译:
近地表力学性能,加载速率和表面化学性质之间的关系
作者:
A.B.Mann
;
P.C.Searson
;
J.B.Pethica
;
T.P.Weihs
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
8.
Under bump metallization development for high Sn solders
机译:
用于高锡焊料的凸点金属化开发
作者:
T.M.Korhonen
;
S.J.Hong
;
P.Su
;
C.Zhou
;
M.A.Korhonen
;
C-Y.Li
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
9.
A comparative study of residual stresses in single and multilayer composite diamond coatings
机译:
单层和多层复合金刚石涂层中残余应力的比较研究
作者:
K.Jagannadham
;
T.R.Watkins
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
10.
Nanoindentation of atomically modified surfaces
机译:
原子修饰表面的纳米压痕
作者:
Sean G.Corcoran
;
Stanko R.Brankovic
;
Nikolay Dimitrov
;
Karl Sieradzki
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
11.
A novel method to measure poisson's ratio of thin films
机译:
一种测量薄膜泊松比的新方法
作者:
V.Ziebart
;
O.Paul
;
U.Munch
;
H.Baltes
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
12.
A new technique for visualizing the displacement field of indentations: the case of a soft film on a hard substrate
机译:
可视化压痕位移场的新技术:硬质基材上的软膜情况
作者:
Joost J.Vlassak
;
T.Y.Tsui
;
W.D.Nix
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
13.
On the measurement of residual stress in thin films
机译:
关于薄膜中残余应力的测量
作者:
Z.B.Zhao
;
J.Hershberger
;
S.M.Yalisove
;
J.C.Bilello
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
14.
Aging effects on the durability of tantalum nitride films
机译:
老化对氮化钽薄膜耐久性的影响
作者:
N.R.Moody
;
D.Medlin
;
D.Boehme
;
D.Norwood
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
15.
3D discrete dislocation models of thin-film plasticity
机译:
薄膜可塑性的3D离散位错模型
作者:
A.Hartmaier
;
M.C.Fivel
;
G.R.Canova
;
P.Gumbsch
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
16.
Micro-raman study of mechanical stress in polycrystalline silicon bridges
机译:
多晶硅桥中机械应力的微观拉曼研究
作者:
H.Talaat
;
S.Negm
;
H.Schaffer
;
G.Kaltsas
;
A.G.Nassiopoulou
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
17.
Nanoindentation of soft films on hard substrates: experiments and finite-element simulations
机译:
硬质基底上的软膜的纳米压痕:实验和有限元模拟
作者:
G.M.Pharr
;
A.Bolshakov
;
T.Y.Tsui
;
Jack C.Hay
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
18.
Nanoindentation and nanowear studies of thin carbon coatings
机译:
薄碳涂层的纳米压痕和纳米磨损研究
作者:
Ashok V.Kulkarni
;
Jerzy T.Wyrobek
;
Zhenghong Qian
;
John M.Siversten
;
Jack Judy
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
19.
Picosecond ultrasonics studies of the effect of ion implantation on interfacial bonding between a thin film and a substrate
机译:
皮秒超声研究离子注入对薄膜和基底之间界面结合的影响
作者:
G.Tas
;
J.J.Loomis
;
H.J.Maris
;
A.A.Bailes
;
L.E.Seiberling
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
20.
Structure and stress evaluation of diamond films deposited on Ti-6Al-4V alloy at low temperature using CH_4/O_2/H_2 and CO/H_2 gas mixtures
机译:
使用CH_4 / O_2 / H_2和CO / H_2混合气体在低温下沉积在Ti-6Al-4V合金上的金刚石膜的结构和应力评估
作者:
Shane A.Catledge
;
Yogesh K.Vohra
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
21.
Annealing effects on the microstructure of electrodeposited Cu/Ag multilayered nanocomposites
机译:
退火对电沉积Cu / Ag多层纳米复合材料微观结构的影响
作者:
Dan Kong
;
Qing Zhai
;
Fereshiteh Ebrahimi
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
22.
Diamond coatings on surface-modified carbide tools using KrF pulsed laser
机译:
使用KrF脉冲激光的表面改性硬质合金刀具上的金刚石涂层
作者:
Dong-Gu Lee
;
Rajiv K.Singh
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
23.
Determination of temeprature-dependent unstressed lattice spacings in crystalline thin films on substrates
机译:
确定衬底上晶体薄膜中随温度变化的无应力晶格间距
作者:
G.Cornella
;
S.Lee
;
O.Kraft
;
W.D.Nix
;
J.C.Bravman
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
24.
Development of mechanical stress in CuNi(Mn) films during temeprature ramping: related mechanisms
机译:
升温过程中CuNi(Mn)膜中机械应力的发展:相关机理
作者:
W.Bruckner
;
Baunack
;
W.Pitschke
;
J.Thomas
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
25.
Evaluation of residual stresses in thin films by means of micro-raman spectroscopy
机译:
显微拉曼光谱法评估薄膜中的残余应力
作者:
Kazuyuki Mizuhara
;
Shinichi Takahashi
;
Jyunichi Kurokawa
;
Noboru Morita
;
Yoshitaro Yoshida
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
26.
Interface stress and an apparent negative poisson's ratio in Ag/Ni multilayers
机译:
Ag / Ni多层膜中的界面应力和表观负泊松比
作者:
K.O.Schweitz
;
H.Geisler
;
J.Chevallier
;
J.B phi ttiger
;
R.Freidenhansl
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
27.
Critical issues in measuring the mechanical properties of hard films on soft substrates by nanoindentation techniques
机译:
通过纳米压痕技术测量软基底上硬膜机械性能的关键问题
作者:
Jack C.Hay
;
G.M.Pharr
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
28.
Correlation between the mechanical stress and microstructure in reactive bias magnetron-sputtered silicon nitride films
机译:
反应偏置磁控溅射氮化硅膜的机械应力与微观结构的关系
作者:
Joo Han Kim
;
Won Sang Lee
;
Ki Woong Chung
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
29.
Correlation of stress with photodegradation in hydrogenated amorphous silicon prepared by hot-wire CVD
机译:
热线CVD制备的氢化非晶硅中应力与光降解的关系
作者:
Daxing Han
;
Tamihiro Gotoh
;
Motoi Nishio
;
Tomonari Sakamoto
;
Shuichi Nonomura
;
Shoji Nitta
;
Qi Wang
;
Eugene Iwaniczko
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
30.
Macro- and microstrain relaxation in annealed Ag films during aging at room temperature
机译:
室温老化后退火的Ag薄膜的宏观和微观应变松弛
作者:
R.C.Currle
;
R.Delhez
;
E.J.Mittemeijer
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
31.
Mechanical properties of ferroelectric composite thin films
机译:
铁电复合薄膜的力学性能
作者:
C.G.Fountzoulas
;
S.Sengupta
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
32.
Mechanical and tribological properties of ZrC/VC alloy films deposited by sputtering and pulsed laser deposition
机译:
溅射和脉冲激光沉积ZrC / VC合金膜的力学和摩擦学性能。
作者:
W.F.Brock J.E.Krzanowski
;
R.E.Leuchtner
;
L.J.Legore
;
D.J.Frankel
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
33.
Mechanical characteriszation of ultrathin, hard-disk overcoats using scratch testing and depth-sensing indentation
机译:
使用划痕测试和深度感应压痕对超薄硬盘外涂层进行机械表征
作者:
J.L.Hay
;
R.L.White
;
B.N.Lucas
;
W.C.Oliver
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
34.
Microstructures and mechanical properties of sputtered Cu/Cr multilayers
机译:
溅射Cu / Cr多层膜的显微组织和力学性能
作者:
A.Misra
;
H.Kung
;
T.E.Mitchell
;
T.R.Jervis
;
M.Nastasi
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
35.
Microstructural effects on the hardness, elastic modulus, and fracture toughness of CVD diamond
机译:
显微组织对CVD金刚石的硬度,弹性模量和断裂韧性的影响
作者:
A.Kant
;
M.D.Drory
;
N.R.Moody
;
W.J.MoberlyChan
;
J.W.Ager
;
R.O.Ritchie
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
36.
Micromechanical properties of silicate glass films on sapphire substrates
机译:
蓝宝石衬底上的硅酸盐玻璃膜的微机械性能
作者:
Andrey V.Zagrebelny
;
C.Barry Carter
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
37.
Microstructure and mechanical properties of electroplated Cu films for damascene ULSI metallization
机译:
镶嵌ULSI金属化电镀Cu膜的组织和力学性能。
作者:
V.M.Dubin
;
G.Morales
;
C.Ryu
;
S.S.Wong
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
38.
Full field measurements of curvature using coherent gradient sensing: application to thin-film characterization
机译:
使用相干梯度感测的曲率全场测量:在薄膜表征中的应用
作者:
A.J.Rosakis
;
R.P.Singh
;
Y.Tsuji
;
E.Kolawa
;
N.R.Moore
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
39.
Structure and mechanical properties of reactive sputter-deposited TiN/TaN multilayered films
机译:
反应性溅射沉积TiN / TaN多层膜的结构和力学性能
作者:
W-H.Soe
;
T.Kitagaki
;
H.Ueda
;
N.Shima
;
M.Otsuka
;
R.Yamamoto
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
40.
Stress characterization of sputtered PZT films
机译:
溅射PZT薄膜的应力表征
作者:
M.J.Mescher
;
M.L.Reed
;
T.E.Schlesinger
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
41.
Tensile strength and fracture toughness of surface-micromachined polycrystalline silicon thin films prepared under various conditions
机译:
在各种条件下制备的表面微加工多晶硅薄膜的拉伸强度和断裂韧性
作者:
Toshiyuki Tsuchiya
;
Jiro Sakata
;
Yasunori Taga
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
42.
Stress-strain curves by tensile testing at thin metallic films on thin polyimide foils: Al, AlCu, CuNi(Mn)
机译:
通过拉伸试验在薄的聚酰亚胺箔上的金属薄膜上进行应力-应变曲线:Al,AlCu,CuNi(Mn)
作者:
F.Macionczyk
;
W.Bruckner
;
G.Reiss
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
43.
Stress controlled magnetomechanical instability in terfenol-D thin films
机译:
应力控制的Terfenol-D薄膜的磁机械不稳定性
作者:
Quanmin Su
;
Y.Wen
;
Manfred Wuttig
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
44.
Strain relaxation in IV-VI semiconductor layers grown on silicon (100) substrates
机译:
在硅(100)衬底上生长的IV-VI半导体层中的应变松弛
作者:
H.K.Sachar
;
P.J.McCann
;
X.M.Fang
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
45.
Two-dimensional distribution of the residual stress in MBE-grown InGaAs-GaAs strained-layer superlattices
机译:
MBE生长的InGaAs-GaAs应变层超晶格中残余应力的二维分布
作者:
K.Iizuka
;
H.Watanabe
;
M.Komatsu
;
T.Suzuki
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
46.
Thermal cycling fatigue in aluminum-alloy thin films on silicon substrate
机译:
硅衬底上铝合金薄膜的热循环疲劳
作者:
J.Koike
;
S.Utsunomiya
;
K.Maruyama
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
47.
Theoretical analysis of electromigration-induced failure of metallic thin films
机译:
电迁移引起的金属薄膜破坏的理论分析
作者:
Dimitrios Maroudas
;
M.Rauf Gungor
;
Henry S.Ho
;
Matthew N.Enmark
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
48.
The effects of residual stress on modulus measurements by indentation
机译:
残余应力对通过压痕测量模量的影响
作者:
D.F.Bahr
;
D.A.Crowson
;
J.S.Robach
;
W.W.Gerberich
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
49.
Determination of the mechanical properties of polysilicon thin films using bulge testing
机译:
使用凸起测试确定多晶硅薄膜的机械性能
作者:
S.Jayaraman
;
R.L.Edwards
;
K.J.Hemker
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
50.
The mechanical response of thin-film substrates subject to ultrasonic joining
机译:
经受超声波接合的薄膜基板的机械响应
作者:
J.E.Krzanowski
;
E.Razon
;
A.F.Hmiel
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
51.
Nano-scale viscoelastic properties of polymer materials
机译:
高分子材料的纳米尺度粘弹性
作者:
S.A.Syed Asif
;
J.B.Pethica
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
52.
A method for independent measurement of elastic modulus and poisson's ratio of diamondlike carbon films
机译:
一种独立测量类金刚石碳膜弹性模量和泊松比的方法
作者:
Sung-Jin Cho
;
Kwang-Ryeol Lee
;
Kwang Yong Eun
;
Jun Hee Han
;
Dae-Hong Ko
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
53.
Advanced bulge test system
机译:
先进的膨胀测试系统
作者:
H.Keiner
;
F.J.Von Preissig
;
H.Zeng
;
M.N.G.Nejhad
;
E.S.Kim
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
54.
Optimization of blend toughness by simultaneous measuremnt of heat and work of deformation
机译:
通过同时测量热量和变形功来优化混合韧性
作者:
N.Agarwal
;
R.J.Farris
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
55.
Nucleation of voids in thin-film interconnects through crystallographic slip
机译:
薄膜互连中空隙的成核作用,通过晶体滑移
作者:
Y-L.Shen
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
56.
Observation of dislocation disappearance in aluminum thin films and consequences for thin-film properties
机译:
观察铝薄膜中的位错消失及其对薄膜性能的影响
作者:
P.Mullner
;
E.Zrzt
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
57.
Practical limitations to indentation testing of thin films
机译:
薄膜压痕测试的实际限制
作者:
J.A.Schneider
;
K.F.McCarty
;
J.R.Heffeclfinger
;
N.R.Moody
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
58.
Quanttitative measurement of the effect of annealing on the adhesion of thin copper films using superlayers
机译:
使用超级层定量测量退火对铜薄膜粘附的影响
作者:
M.D.Kriese
;
N.R.Moody
;
W.W.Gerberich
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
59.
Structure determination of B_4C and SiC thin films Via synchrotron high-resolution diffraction
机译:
同步加速器高分辨率衍射确定B_4C和SiC薄膜的结构
作者:
J.Hershberger
;
F.Kustas
;
Z.U.Rek
;
S.M.Yalisove
;
J.C.Bilello
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
60.
Simulations of electromigration at a tungsten/aluminum junction
机译:
钨/铝结的电迁移模拟
作者:
A.Enver
;
G.L.Povirk
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
61.
Residual stress generation during constrained sintering of layered ceramic thin-film structures
机译:
层状陶瓷薄膜结构的约束烧结过程中残余应力的产生
作者:
E.P.Busso
;
R.P.Travis
;
L.Chandra
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
62.
Polycapillary x-ray optics for thin-film strain and texture analysis
机译:
多毛细管X射线光学器件,用于薄膜应变和纹理分析
作者:
F.A.Hofmann
;
W.M.Gibson
;
S.M.Lee C.A.MacDonald
;
J.B.Ullrich
;
N.Gao
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
63.
Surface and interface strains studied by x-ray diffraction
机译:
通过X射线衍射研究表面和界面应变
作者:
Koichi Akimoto
;
Takashi Emoto
;
Ayahiko Ichimiya
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
64.
Curvature of rectangular coated foils with different wide-to-length ratios
机译:
具有不同宽长比的矩形涂层箔的曲率
作者:
M.D.Tran
;
W.P.Vellinga
;
J.H.Dautzenberg
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
65.
Curling and annealing study of sputtered thin spinel films delaminated from lift-off polyimide
机译:
剥离聚酰亚胺剥离的尖晶石薄膜的卷曲和退火研究
作者:
Rand Dannenberg
;
Alexander M.King
;
Richard J.Gambino
;
Alan J.Doctor
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1997年
66.
Dynamic hardness of thin films and its thickness dependence
机译:
薄膜的动态硬度及其厚度依赖性
作者:
Mikio Iwasa
;
Koji Tanaka
;
John A.Barmard
;
Richard C.Bradt
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
67.
Energy storage and recovery in thin metal films on substrates
机译:
基板上金属薄膜中的能量存储和回收
作者:
Sheford P.Baker
;
Rose-Marie Keller
;
Eduard Arzt
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
68.
Effects of interface nonplanarity on the interface fracture energy of the TiN/SiO_2 system
机译:
界面非平面性对TiN / SiO_2体系界面断裂能的影响
作者:
Michael Lane
;
Winnie Ni
;
Reiner Dauskardt
;
Qing Ma
;
Harry Fujimoto
;
Nety Krishna
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
69.
Dislocation-based models of stress-strain behavior in multilayered thin films
机译:
基于位错的多层薄膜应力应变行为模型
作者:
Peter M.Anderson
;
Eric R.Kreidler
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
70.
Grain impingement and intrinsic stresses in CVD diamond
机译:
CVD金刚石中的晶粒碰撞和内应力
作者:
S.Nijhawan
;
J.Rankin
;
B.L.Walden
;
B.W.Sheldon
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
71.
FEM simulation of microrotating structures and their applications in measurement of residual stresses in thin films
机译:
微旋转结构的有限元模拟及其在薄膜残余应力测量中的应用
作者:
Xin Zhang
;
Tong-Yi Zhang
;
Yitshak Zohar
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
72.
Fatigue strength of thin films by means of impact tester
机译:
冲击试验机测定薄膜的疲劳强度
作者:
E.Lugscheider
;
O.Knotek
;
Christian Wolff
;
Stephan Barwulf
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
73.
Interfacial free energies and the creep of multilayer thin films
机译:
界面自由能与多层薄膜的蠕变
作者:
D.Josell
;
W.C.Carter
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
74.
High-temperature tensile behavior of freestanding gold films
机译:
独立式金膜的高温拉伸行为
作者:
R.Emery
;
C.Simons
;
B.Mazin
;
G.L.Povirk
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
75.
Fracture tests of polysilicon film
机译:
多晶硅膜的断裂试验
作者:
W.N.Sharpe
;
B.Yuan
;
R.L.Edwards
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
76.
Creation and motion of edge dislocations in copper single crystals
机译:
铜单晶中边缘位错的产生和运动
作者:
Masao Doyama
;
Yoshilaki Kogure
;
Tadatoshi Nozaki
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
77.
Comparison of AlN films synthesized by pulsed laser ablation and magnetron sputtering techniques
机译:
脉冲激光烧蚀与磁控溅射技术合成AlN薄膜的比较
作者:
K.Jagannadham
;
A.K.Sharma
;
Q.Wei
;
R.Kalyanraman
;
J.Narayan
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
78.
Computer simulation of stress distribution in amorphous SiO_2 thin films
机译:
非晶SiO_2薄膜应力分布的计算机模拟。
作者:
Y.Kogure
;
M.Doyama
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
79.
Coherency and loss of coherency in multilayers
机译:
多层的相干性和相干性损失
作者:
P.M.Hazzledine
;
M.A.Grinfeld
;
S.I.Rao
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
80.
Curves of elastoplatic deformation of thin coatings obtained in depth-sensing indentation experiments
机译:
深度感应压痕实验获得的薄涂层弹塑性变形曲线
作者:
S.N.Dub
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
81.
Interfacial stability and misfit dislocation formation in InAs/GaAs(110) heteroepitaxy
机译:
InAs / GaAs(110)异质外延中的界面稳定性和失配位错形成
作者:
Luis A.Zepeda-Ruiz
;
Dimitrios Maroudas
;
W.Henry Weinberg
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
82.
Interfacial strain reliefs in epitaxial YBa_2Cu_3O_(7- delta ) thin films grown on SrTiO_3 buffered MgO substrates
机译:
在SrTiO_3缓冲MgO衬底上生长的外延YBa_2Cu_3O_(7- delta)薄膜界面应力释放。
作者:
Xingtian Cut
;
Q.Y.Chen
;
Yongxiang Guo
;
W.K.Chu
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
83.
Internal mechanical stresses and conductivity mechanisms of p-n-InAsPSb/InAs heterostructures
机译:
p-n-InAsPSb / InAs异质结构的内部机械应力和电导率机理
作者:
V.G.Sidorov
;
V.I.Sokolov
;
D.V.Sidorov
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
84.
In situ TEM observations of surface roughening and defect formation in lattice-mismatched, heteroepitaxial thin films
机译:
晶格不匹配的异质外延薄膜的表面粗糙化和缺陷形成的原位TEM观察
作者:
Cengiz S.Ozkan
;
William D.Nix
;
Huajian Gao
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
85.
Imporved tribological behavior of boron-implanted Ti-6Al-4V
机译:
硼注入Ti-6Al-4V的摩擦学行为改善
作者:
N.P.Baker
;
K.C.Walter
;
M.Nastasi
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
86.
Measurement of nonuniform stresses in semiconductors by the micro-raman method
机译:
用微拉曼法测量半导体中的非均匀应力
作者:
K.Pinardi
;
S.C.Jain
;
H.E.Maes
;
R.Van Overstraeten
;
M.Willander
;
A.Atkinson
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
87.
Measurement of residual stress in thin films using the optical microprobe
机译:
使用光学探针测量薄膜中的残余应力
作者:
A.Atkinson
;
D.R.Clarke
;
S.C.Jain
;
K.Pinardi
;
S.Webb
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
88.
Mechanical and tribological properties of alpha -GeC_x films deposited by dc magnetron sputtering
机译:
直流磁控溅射沉积的α-GeC_x薄膜的力学和摩擦学性能
作者:
L.G.Jacobsohn
;
D.C.Reigada
;
F.L.Freire
;
R.Prioli
;
S.I.Zanette
;
A.O.Caride
;
F.C.Nascimento
;
C.M.Lepienski
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
89.
Microstructure and wear resistance of doped diamondlike carbon prepared by pulsed laser deposition
机译:
脉冲激光沉积法制备掺杂类金刚石碳的微观结构和耐磨性
作者:
Q.Wei
;
R.J.Narayan
;
A.K.Sharma
;
S.Oktyabrsky
;
J.Sankar
;
J.Narayan
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
90.
Mechanical characterization of submicron polytetrafluoroethylene (PTFE) thin films
机译:
亚微米级聚四氟乙烯(PTFE)薄膜的机械特性
作者:
B.N.Lucas
;
C.T.Rosenmayer
;
W.C.Oliver
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
91.
Million-line failure distributions for narrow interconnects
机译:
狭窄互连的百万线故障分布
作者:
M.C.Bartelt
;
J.J.Hoyt
;
N.C.Bartelt
;
J.J.Dike
;
W.G.Wolfer
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
92.
Influence of target structure on film stress in WTI sputtering
机译:
WTI溅射中靶材结构对膜应力的影响
作者:
Chi-Fung Lo
;
Hong Wang
;
Paul Gilman
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
93.
Indentation creep analysis of amorphous nitrogen-containing carbon films
机译:
非晶态含氮碳膜的压痕蠕变分析
作者:
Daisuke Tanaka
;
Shigeo Ohshio
;
Hidetoshi Saltoh
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
94.
Mechanical testing and microstructural characterization of TiN thin films
机译:
TiN薄膜的机械测试和显微结构表征
作者:
A.Karimi
;
O.R.Shojael
;
J.L.Martin
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
95.
Nanoindentation hardness of compositionally modulated Ti/TiN multilayered films
机译:
成分调制的Ti / TiN多层膜的纳米压痕硬度
作者:
Eiji Kusano
;
Masaru Kitagawa
;
Hidehito Nanto
;
Akira Kinbara
会议名称:
《Symposium on Thin-Films - Stresses and Mechanical properties Vii, held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1997年
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